Temat: mikroskopia sil atomowych

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Modularny mikroskop tunelowy i sił atomowych do badań własności elektrycznych nanostruktur
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Radojewski, J.
Sankowska, A.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
diagnostyka powierzchni
shear force microscopy
current emission; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Mikroskopia bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
badanie materiałów
badanie struktury
atomic force microscopy (AFM)
materials testing
structure examination; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
techniki pomiarowe
przetwarzanie sygnałów
atomic force microscopy (AFM)
measurement techniques
signal processing
harmonic analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Porównanie submikrometrowych efektów degradacji powierzchni wybranych tworzyw transparentnych stosowanych w elektrotechnice
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
degradacja materiału
inżynieria materiałowa
badania klimatyczne
atomic force microscopy
material degradation
materials science
climatic tests; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Ocena wpływu promieniowania świetlnego na nanoskopowe właściwości powierzchni kompozytów termoutwardzalnych
Autorzy:: Sikora, A.
Fałat, T.
Adamowska, M.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: badania środowiskowe
promieniowanie słoneczne
tomografia komputerowa
mikroskopia sił atomowych
environmental tests
solar radiation
micro computer tomography
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro- do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie
Autorzy:: Gotszalk, T.
Sikora, A.
Kolanek, K.
Szeloch, R.
Szmidt, J.
Grabiec, P.
Rangelow, I. W.
Mitura, S.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
lokalna anodyzacja powierzchni
nanolitografia
tranzystor jednoelektronowy
atomic force microscopy (AFM)
local anodization
nanolithography
single electron transistor; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy setup. The tool for nanoscale diagnostic of optoelectrical properties of the surface
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
Kelvin Probe Force Microscope
optical simulation
optoelectrical properties
mikroskopia sił atomowych
sonda Kelvina
symulacja optyczna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Przestrzennie skorelowana, submikrometrowa analiza właściwości morfologicznych, mechanicznych i chemicznych kompozycji epoksydowej domieszkowanej nanokrzemionką
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Warycha, J.
Moroń, L.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
mikroskopia elektronowa
nanomateriały
diagnostyka
nanolitografia
kompozycje epoksydowe
atomic force microscopy (AFM)
electron microscopy
nanomaterials
diagnostics
nanolithography
epoxy materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Ocena wpływu promieniowania świetlnego na nanoskopowe właściwości powierzchni kompozytów termoutwardzalnych
The evaluation of the solar radiation impact on the nanoscoppic properties of the surface of the sheet moulder composite
Autorzy:: Sikora, A.
Fałat, T.
Adamowska, M.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: badania środowiskowe
promieniowanie słoneczne
tomografia komputerowa
mikroskopia sił atomowych
environmental tests
solar radiation
micro computer tomography
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Utilization of AFM mapping of surface's mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat