- Tytuł:
- Photoelectronic measurement methods and the universal measurement system for precise parameter determination of semiconductor structures
- Autorzy:
-
Machalica, P.
Porębski, S.
Zając, J.
Borowicz, L.
Kudła, A.
Przewłocki, H. M. - Data publikacji:
- 2002
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki