Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "defect structure" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Inteligentny system diagnostyczny do badania półprzewodników wysokorezystywnych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Autorzy:
Suproniuk, M.
Kamiński, P.
Miczuga, M.
Pawłowski, M.
Kleider, J.
Kozłowski, R.
Longeaud, Ch.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
system diagnostyczny
spektroskopia fotoprądowa
centra defektowe
materiały półizolujące
diagnostic system
defect centers
defect structure
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Prace ITME 1991 z. 36
Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów do badania struktury defektowej półprzewodników typu AIIIBV = Application of deep level transient spectroscopy to investigation of III-V semiconductors defect structure
Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów do badania struktury defektowej półprzewodników typu AIIIBV
Autorzy:
Kamiński Paweł
Kamiński, Paweł
Data publikacji:
1991
Wydawca:
Wydaw. Przem. "WEMA"
Słowa kluczowe:
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
DLTS
AIIIBV
struktura defektowa
defect structure
Electronic - journal - material
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Teoria domieszkowania w badaniach struktury defektów i własności transportowych tlenków i siarczków metali przejściowych = Theory of doping in studies of defect structure and transport properties of transition metal oxides and sulphides
Autorzy:
Grzesik, Zbigniew
Współwytwórcy:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki. Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów
Data publikacji:
2013
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
Tytuł:
Obrazowanie struktury defektowej kryształów półizolującego GaAs poprzez analizę relaksacyjnych przebiegów fotoprądu z zastosowaniem odwrotnego przekształcenia Laplacea
Imaging of defect structure of semi-insulating GaAs crystals by analysis of photocurrent relaxation wave forms with implementation of inverse Laplace transform
Autorzy:
Pawłowski, M.
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Kozubal, M.
Żelazko, J.
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa
odwrotne przekształcenie Laplace'a
metoda korelacyjna
obraz prążków widmowych
obrazowanie struktury defektowej kryształów
aproksymacja neuronowa
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Obrazowanie struktury defektowej kryształów półizolującego GaAs poprzez analizę relaksacyjnych przebiegów fotoprądu z zastosowaniem odwrotnego przekształcenia Laplace'a
Autorzy:
Pawłowski, M.
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Kozubal, M.
Żelazko, J.
Data publikacji:
2006
Słowa kluczowe:
niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa
odwrotne przekształcenie Laplace'a
metoda korelacyjna
obraz prążków widmowych
obrazowanie struktury defektowej kryształów
aproksymacja neuronowa
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Wyznaczanie parametrów wytrzymałościowych metali metodą egzoemisji elektronów oraz ich współzależność ze strukturą defektową warstwy wierzchniej
Autorzy:
Duś-Sitek, M.
Data publikacji:
2005
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1986 nr 4(56)
Wpływ defektów strukturalnych podłoża na doskonałość strukturalną heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs (x=0,4) = Influence of substrates defect structure on the structure perfection of heteroepitaxial layers GaAs1-xPx/GaAs(x=0.4)
Wpływ defektów strukturalnych podłoża na doskonałość strukturalną heteroepitaksjalnych warstw GaAs1-xPx/GaAs (x=0,4)
Autorzy:
Pawłowska Marta
Współwytwórcy:
Hruban Andrzej
Data publikacji:
1987
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
GaAsP
heteroepitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
defekt strukturalny
Materiały elektroniczne
heteroepitaksjalna warstwa
Electronic materials
Electronic - journal - material
structure perfection
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies