Wszystkie pola: metoda SIMS

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badanie drobin pyłów atmosferycznych ze środowiska miejskiego i wiejskiego metodami SIMS i SSMS
Autorzy:: Konarski, P.
Hałuszka, J.
Ćwil, M.
Kaczorek, K.
Pisiewicz, K.
Strugała-Stawik, H.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: metoda SIMS
metoda SSMS
zanieczyszczenie środowiska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Badanie nanostruktur warstwowych InAlGaAs/AlGaAs/GaAs, metodą SIMS przy stosowaniu wiązki jonów o ultra-niskiej energii
Autorzy:: Konarski, P.
Ćwil, M.
Zaremba, M.
Radziewicz, D.
Ściana, B.
Kozłowski, J.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: metoda SIMS
nanostruktury warstwowe
spektrometria mas jonów wtórnych
SIMS method
nanostructures
ion mass spectrometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Analiza składu chemicznego układu DLC/Si przy użyciu metody SIMS i spektroskopii elektronów Augera
Autorzy:: Staryga, E.
Rogowski, J.
Knapik, M.
Jarzyńska, D.
Cłapa, M.
Rylski, A.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: skład chemiczny układu DLC/Si
metoda SIMS
metoda spektroskopii elektronów Augera; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Analiza profili lipidowych wybranych układów biologicznych metodą spektrometrii masowej TOF-SIMS
Analysis of lipid profiles of selected biological systems using TOR-SIMS mass spectrometry
Autorzy:: Marzec, Magdalena
Współwytwórcy:: Pędrys, Roman
Wojtysiak, Dorota
Data publikacji:: 2018-05-21
Słowa kluczowe:: spektrometria masowa
broilers
tissues
TOF-SIMS
lipidy
mass spectrometry
brojlery
lipids
tkanki; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Analysis of sterols and prenols in samples of extracellular vesicles by TOF-SIMS mass spectrometry
Analiza pochodnych steroli i prenoli w próbkach pęcherzyków zewnątrzkomórkowych metodą spektrometrii masowej TOF-SIMS
Autorzy:: Babińska, Agnieszka
Słowa kluczowe:: extracellular vesicles (EVs), secondary ion mass spectrometry with a time-of-flight analyzer (TOF-SIMS), sterols, prenoles, cholesterol, Vitamin E
pęcherzyki zewnątrzkomórkowe, spektrometria mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF-SIMS), sterole, prenole, cholesterol, witamina E; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Badanie powierzchni materiałów ceramicznych metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych
Autorzy:: Tuleta, M.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: szkło
warstwa diamentowa
profil głębokościowy SIMS
glass
diamond film
SIMS depth profiles; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Zastosowanie spektroskopii TOF-SIMS w charakterystyce katalizatorów Pd/SiO2 otrzymanych metodą zol-żel
Autorzy:: Karski, S.
Ludomirska, I.
Proga, H.
Szynkowska, M.I.
Witońska, I.
Kłonkowski, A.M.
Kledzik, K.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: spektroskopia TOF-SIMS
ToF-SIMS
metoda zol-żel
zol-żel
katalizatory
TOF-SIMS spectroscopy
spectroscopy
sol-gel method
catalysts; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Zastosowanie spektroskopii TOF-SIMS w charakterystyce katalizatorów Pd/SiO2 otrzymanych metodą zol-żel
Współwytwórcy:: Witońska, Izabela
Kledzik, Krzysztof
Karski, Stanisław
Proga, Henryk
Kłonkowski, Andrzej M.
Szynkowska, Małgorzata Iwona
Ludomirska, Iwona
Data publikacji:: 2006
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Otrzymywanie warstw SiCN metodą RF sputteringu
Autorzy:: Stańczyk, B.
Jagoda, A.
Dobrzański, L.
Caban, P.
Możdżonek, M.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: SiCN
sputtering
widmo podczerwieni
widmo optycznej absorpcji
dyfrakcja rentgenowska
SIMS
rf sputtering
absorption spectrum
IR spectrum
X-ray diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Otrzymywanie warstw SiCN metodą RF sputteringu
SiCN films deposited by RF magnetron sputtering
Autorzy:: Stańczyk, B.
Jagoda, A.
Dobrzański, L.
Caban, P.
Możdżonek, M.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: SiCN
sputtering
widmo podczerwieni
widmo optycznej absorpcji
dyfrakcja rentgenowska
SIMS
rf sputtering
absorption spectrum
IR spectrum
X-ray diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "metoda SIMS" wg kryterium: Wszystkie pola