- Tytuł:
- Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si technikami mikroskopii ze skanującą sondą i oświetleniem
- Autorzy:
-
Szyszka, Adam
Wośko, Mateusz
Paszkiewicz, Regina - Data publikacji:
- 2019
- Słowa kluczowe:
-
azotek galu
AlGaN/GaN
skaningowa mikroskopia pojemnościowa
skaningowa mikroskopia potencjału powierzchniowego
SCM
SSPM
SPM
gallium nitride
AlGaN/GaN/Si
scanning potential microscopy
scanning capacitance microscopy - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech