Temat: silicon layer - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badania kinetyki wzrostu krzemowych warstw lateralnych w gradientowym polu temperaturowym dla struktur baterii słonecznych
Autorzy:: Olchowik, J. M.
Jóźwik, I.
Gułkowski, S.
Cieślak, K.
Szymczuk, D.
Zdyb, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: bateria słoneczna
warstwa krzemowa
warstwa lateralna
wytwarzanie
kinetyka procesu
solar cell
silicon layer
production
process kinetics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Optymalizacja procesu epitaksji z fazy ciekłej do zastosowań fotowoltaicznych
Autorzy:: Cieślak, K.
Olchowik, J. M.
Gułkowski, S.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: ogniwo fotowoltaiczne
warstwa krzemowa
epitaksja z fazy ciekłej
photovoltaic cell
silicon layer
epitaxy
liquid phase epitaxy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Warstwa azotku krzemu jako warstwa antyrefleksyjna i pasywujaca dla krzemowych ogniw słonecznych
Autorzy:: Lipiński, M.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: warstwa azotku krzemu
krzemowe ogniwa słoneczne
warstwa antyrefleksyjna
silicon nitride layer
silicon solar cells
passivation
antireflection coating; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Metodyka badania warstw epitaksjalnych krzemu za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego z zastosowaniem map linii Kikuchi = The method of study for the silicon epitaxial monolayers by means of transmission electron microscope with use of Kikuchi lines map
Metodyka badania warstw epitaksjalnych krzemu za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego z zastosowaniem map linii Kikuchi
Materiały Elektroniczne 1978 nr 2(22)
Autorzy:: Rupniewski Wojciech
Współwytwórcy:: Wójcik Marek
Data publikacji:: 1979
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: TEM
Si
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
silicon epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1976 nr 4(16)
Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um = Silicon epitaxial layers of thickness above 20 um
Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um
Autorzy:: Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Współwytwórcy:: Lachowski Andrzej
Data publikacji:: 1976
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Si
warstwa epitaksjalna
Grubość warstwy
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
silicon epitaxial layer
layer thickness
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1975 nr 4(12)
Badanie jednorodności oporności krzemowych warstw epitaksjalnych = Investigations of homogenity of silicon epitaxial layers resistivity
Badanie jednorodności oporności krzemowych warstw epitaksjalnych
Autorzy:: Nowysz Karol
Współwytwórcy:: Surma Barbara
Data publikacji:: 1975
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
Si
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
silicon epitaxial layer
oporność
resistivity
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Synteza i badania nanokompozytów anodowych typu C/Si do ogniw litowo-jonowych
Synthesis and characterization of C/Si type anode nanocomposites for lithium-ion batteries
Autorzy:: Siepka, Arleta
Słowa kluczowe:: Li-ion batteries, anode materials, silicon, carbon layer, nanocomposites
akumulatory Li-ion, materiały anodowe, krzem, warstwa węglowa, nanokompozyty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1980 nr 3/4(31/32)
Przyczyny rozrzutów rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych w układach wielowarstwowych = The effective causes of the nanuniformity of the silicon epitaxial layers resistivity in multilayer structures
Przyczyny rozrzutów rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych w układach wielowarstwowych
Autorzy:: Tomaszewski Jacek
Współwytwórcy:: Korec Jacek
Brzozowski Andrzej
Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Data publikacji:: 1981
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Electronic - materials
Materiały elektroniczne
krzemowa warstwa epitaksjalna
silicon epitaxial layer
rezystywność
resistivity
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Krzemowe warstwy epitaksjalne do mikrofalowych diod przestrajających
Materiały Elektroniczne 1992 nr 2(78)
Krzemowe warstwy epitaksjalne do mikrofalowych diod przestrajających = Silicon epitaxial layers for microwave tunung diodes
Autorzy:: Skwarcz Jerzy
Współwytwórcy:: Nossarzewska-Orłowska, Elżbieta
Data publikacji:: 1992
Wydawca:: Wydaw. Przemysłowe WEMA
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Si
dioda mikrofalowa
microwave diode
warstwa epitaksjalna
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
silicon epitaxial layer; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych = The investigations of misfit dislocations creation in silicon epitaxial layers
Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych
Autorzy:: Mazur Krystyna
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1981
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: misfit dislocation
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
dyslokacja niedopadowania
krzemowa kwarstwa epitaksjalna
silicon epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "silicon layer" wg kryterium: Temat