Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "AR(S)" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Some remarks on the paper "Optimization of S:Sn precursor molar concentration on the physical properties of spray deposited single phase Sn2S3 thin films" by J. Srivind, V.S. Nagaretthinam, A.R. Balu [Mater. Sci.-Poland, 34 (2016), 393 – 398]
Autorzy:
Tomaszewski, Paweł E.
Data publikacji:
2020
Słowa kluczowe:
X-ray diffraction
thin films
error
Sn2S3
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies