Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Piątkowska, A." wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Prezentacja głównego zakresu możliwości obrazowania i analizy za pomocą mikroskopu Auriga® Crossbeam® Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Autorzy:
Jóźwik, I.
Piątkowska, A.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
mikroskopia skaningowa
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies