Temat: mikroskopia sond skanujących (SPM)

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sond skanujących (SPM)" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-1 z 1

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w ocenie stopnia anizotropii mikrostruktury
Autorzy:: Bramowicz, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikroskopia sond skanujących (SPM)
mikroskopia sił atomowych
metodyka określania stopnia anizotropii
normalizacja powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-1 z 1

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sond skanujących (SPM)" wg kryterium: Temat