Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Multiple Non-linear Regression" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-8 z 8
Artykuł
Tytuł:
Estimation of discharge correction factor of modified Parshall flume using ANFIS and ANN
Autorzy:
Saran, D.
Tiwari, N. K.
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Stowarzyszenie Komputerowej Nauki o Materiałach i Inżynierii Powierzchni w Gliwicach
Tematy:
Discharge Correction Factor
Adaptive Neuro-Fuzzy Inference System
artificial neural network
Multiple Non-linear Regression
parshall flumes
współczynnik korygujący wyładowania
adaptacyjny system neuronowo-rozmyty
sztuczna sieć neuronowa
regresja wielokrotna nieliniowa
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Prediction of remaining useful life for lithium-ion battery with multiple health indicators
Autorzy:
Su, Chun
Chen, Hongjing
Wen, Zejun
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
lithium-ion (Li-ion) battery
remaining useful life
RUL
health indicator
HI
generalized regression neural network (GRNN)
non-linear autoregressive (NAR)
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Prediction of remaining useful life for lithium-ion battery with multiple health indicators
Autorzy:
Su, Chun
Chen, Hongjing
Wen, Zejun
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
lithium-ion (Li-ion) battery
remaining useful life (RUL)
health indicator (HI)
generalized regression neural network (GRNN)
non-linear autoregressive (NAR)
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
Autorzy:
Golonek, T.
Chruszczyk, Ł.
Data publikacji:
2020
Słowa kluczowe:
analog electronic circuits
specification driven testing
evolutionary computations
multiple regression
obwód elektroniczny analogowy
test oparty na specyfikacji
obliczenia ewolucyjne
regresja wielokrotna
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-8 z 8

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies