Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Posobkiewicz, Krzysztof" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Wpływ rozrzutu technologicznego parametrów tranzystorów MOS mocy na dokładność pomiaru ich rezystancji termicznej
Autorzy:
Posobkiewicz, Krzysztof
Górecki, Krzysztof
Data publikacji:
2024
Słowa kluczowe:
tranzystor MOS mocy
parametry cieplne
pomiar
rezystancja termiczna
charakterystyka termometryczna
błąd pomiaru
power MOSFET
thermal parameter
measurement
thermal resistance
thermometric characteristic
measurement error
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Influence of the selection of the approximating function of thermometric characteristics on the measurement results of thermal resistance of power mosfets
Autorzy:
Górecki, Krzysztof
Posobkiewicz, Krzysztof
Data publikacji:
2024
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czasopisma i Monografie PAN
Tematy:
thermal resistance
thermal parameters of semiconductor devices
thermometric characteristics
power MOS transistors
measurements
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies