Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sample preparation protocol" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Data on step-by-step atomic force microscopy monitoring of changes occurring in single melanoma cells undergoing ToF SIMS specialized sample preparation protocol
Autorzy:
Rysz, Jakub
Wiltowska-Zuber, Joanna
Bobrowska, Justyna
Awsiuk, Kamil
Jany, Benedykt
Budkowski, Andrzej
Lekka, Malgorzata
Krok, Franciszek
Pabijan, Joanna
Data publikacji:
2016
Słowa kluczowe:
ToFSIMS
AFM imaging
single cells preparation
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies