Wszystkie pola: Tomkiewicz, Anna

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Tomkiewicz, Anna" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-10 z 57

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Monitorowania jakości powierzchni obrobionej przy zastosowaniu środowiska LabView
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Współwytwórcy:: Tomkiewicz, Dariusz
Data publikacji:: 2007
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Surface image enhancement and discrimination with the applicationof wavelet decomposition
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Współwytwórcy:: Tomkiewicz, Dariusz
Data publikacji:: 2013
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Systemy monitorowania w obróbce skrawaniem
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Data publikacji:: 2014
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Dekompozycja falkowa profilu powierzchni obrobionej po toczeniu
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Obraz powierzchni obrobionej w ocenie jakości procesu skrawania
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Data publikacji:: 2012
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Analiza czynników determinujących dokładność układu monitorowania powierzchni obrobionej (UMPO)
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Data publikacji:: 2013
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Zastosowanie optycznych technik pomiarowych do analizy topografii powierzchni obrobionej w toczeniu
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Zastosowanie Empirical Mode Decomposition do analizy zmian chropowatości w czasie skrawania
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Data publikacji:: 2010
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Estimation of surface roughness parameter based on machined surface image
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Data publikacji:: 2010
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Introduction to the wavelet analysis of a machined surface profile
Autorzy:: Zawada-Tomkiewicz, Anna
Współwytwórcy:: Storch, Borys.
Data publikacji:: 2004
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 57

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Tomkiewicz, Anna" wg kryterium: Wszystkie pola