Wszystkie pola: X-ray Line Profile Analysis

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "X-ray Line Profile Analysis" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-3 z 3

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Quantification of nanocrystallization by means of X-ray line profile analysis
Autorzy:: Zehetbauer, M. J.
Współwytwórcy:: Ungar, T.
Schafler, E.
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Quantification of nanocrystallization by means of X-ray line profile analysis
Autorzy:: Zehetbauer, M. J.
Schafler, E.
Ungar, T.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: analiza profilu linii rentgenowskiej
odbicia dyfrakcyjne wyższych rzędów
rozdrobnienie ziarna
deformacja plastyczna
promieniowanie synchrotronowe
X-ray Line Profile Analysis
multi reflection profile analysis
size and strain broadening
nanocrystallization
severe plastic deformation
synchrotron radiation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zastosowanie nieniszczących dyfrakcyjnych metod rentgenowskich do charakteryzowania stanu struktury materiałów
Autorzy:: Skrzypek, S. J.
Witkowska, M.
Kowalska, M.
Chruściel, K.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: metody dyfrakcyjne
dyfrakcja w geometrii stałego kąta padania
dyfrakcja w geometrii Bragg-Brentano
pomiar grubości powłok i cienkich warstw
dyfrakcyjna analiza fazowa
pomiary mikro- i makronaprężeń własnych
dyfrakcyjna metoda analizy tekstury krystalograficznej
analiza profilu linii dyfrakcyjnej
X-ray diffraction method
grazing incident angle and Bragg-Brentano diffraction methods
thickness measurement of coatings and thin-layers
X-ray phase analysis
measurements of micro- and macro residual stresses
measurements and analysis of crystallographic texture
analysis of diffraction line profile; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-3 z 3

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "X-ray Line Profile Analysis" wg kryterium: Wszystkie pola