Wszystkie pola: cluster SIMS

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Modeling dynamic cluster SIMS experiments
Autorzy:: Kennedy, Paul E.
Schiffer, Zachary J.
Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: co-bombardment
sample rotation
C_{60}
SIMS
Ar
molecular dynamics
depth profile; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Autorzy:: Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: atomic SIMS
molecular dynamics
computer simulation
cluster SIMS
MALDI; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Molecular dynamics study of polystyrene bond-breaking and crosslinking under C_{60} and Ar_{n} cluster bombardment
Autorzy:: Delcorte, Arnaud
Czerwinski, Bartlomiej
Garrison, Barbara J.
Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: cluster SIMS
molecular depth profiling
polystyrene
crosslinking
desorption
molecular dynamics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Zbadanie procesów fizykochemicznych prowadzących do fragmentacji molekuł organicznych w krysztale beta-karotenu bombardowanego pociskami C60 i Ar872
Investigation of physicochemical processes leading to fragmentation of organic molecules in beta-carotene crystal bombarded with C60 and Ar872 projectiles
Autorzy:: Pałka, Grzegorz
Słowa kluczowe:: sputtering, fragmentation, beta-carotene, C60, Ar872, fullerene, gas cluster, argon, molecular dynamics, SIMS, AIREBO, organic molecules
rozpylanie, fragmentacja, beta-karoten, C60, Ar872, fulleren, klaster gazowy, agron, dynamika molekularna, SIMS, AIREBO, molekuły organiczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Dynamics of large Ar cluster bombardment of organic solids
Autorzy:: Rzeznik, L.
Garrison, Barbara J.
Paruch, Robert
Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: molecular dynamics simulations
cluster bombardment
SIMS; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Zastosowanie niskoenergetycznej wiązki jonów argonu do analizy profilowej SIMS nanostruktur warstwowych
Autorzy:: Konarski, P.
Mierzejewska, A.
Iwanejko, I.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: analiza profilowa SIMS
wiązka jonów argonu
zastosowanie
profile analysis SIMS
cluster of ion of argon
employment; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Mixed MD simulation – analytical model analysis of Ag(111), C_{60} repetitive bombardment in the context of depth profiling for dynamic SIMS
Autorzy:: Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Paruch, Robert
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: depth profiling
cluster bombardment
dynamic SIMS
molecular dynamics
analytical model; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Computer simulations of material ejection during $C_{60}$ and $Ar_{m}$ bombardment of octane and $\beta$-carotene
Autorzy:: Maciążek, Dawid
Pałka, Grzegorz
Garrison, B. J.
Postawa, Zbigniew
Kański, Michał
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: molecular dynamics simulations
cluster bombardment
SIMS; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Computer simulations of sputtering and fragment formation during keV C60 bombardment of octane and β-carotene
Autorzy:: Kański, Michał
Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Maciążek, Dawid
Paruch, Robert J.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: molecular dynamics simulations
SIMS
cluster bombardment; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Modelowanie profilowania głębokościowego kryształów wiązką pocisków C60 i Au3
Autorzy:: Paruch, Robert
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Uniwersytet Jagielloński w Krakowie
Słowa kluczowe:: profilowanie głębokościowe
SIMS
depth profiling
dynamika molekularna
cluster projectiles
molecular dynamics
pociski klastrowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Jagiellońska Biblioteka Cyfrowa

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Sputtering of thin films of bariated molecules of arachidic acid by large noble gas clusters
Autorzy:: Garrison, B. J.
Paruch, Robert
Rzeźnik, Łukasz
Postawa, Zbigniew
Czerwiński, Bartłomiej
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: organic overlayers
SIMS/SNMS
cluster bombardment
molecular dynamics
sputtering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Multilayers of poly(styrene/$\alpha$-tert-butoxy-$\omega$-vinylbenzyl-polyglycidol) microspheres with core-shell morphology : characterization by AFM, SIMS and XPS
Autorzy:: Rysz, Jakub
Raczkowska, Joanna
Basinska, Teresa
Marzec, Mateusz M.
Budkowski, Andrzej
Haberko, Jakub
Bernasik, Andrzej
Awsiuk, Kamil
Gosecka, Monika
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: SIMS
XPS argon gas cluster sputtering
emulsion copolymerization
polyglycidol macromonomer
hydrophilic core-shell particle; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Molecular dynamics computer simulations of $5 keV C_{60}$ bombardment of benzene crystal
Autorzy:: Garrison, Barbara J.
Rzeźnik, Łukasz
Postawa, Zbigniew
Czerwiński, Bartłomiej
Paruch, Robert
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: organic material
SIMS/SNMS
molecular dynamics computer simulations
depth profiling
cluster projectiles
sputtering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Modelowanie profilowania głębokościowego kryształów wiązką pocisków $C_{60}$ i $Au_{3}$
Computer modelling of crystal sample depth profiling with $C_{60}$ and $Au_{3}$ projectile beams
Autorzy:: Paruch, Robert
Współwytwórcy:: Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2012-09-25
Słowa kluczowe:: dynamika molekularna
SIMS
profilowanie głębokościowe
molecular dynamics
pociski klastrowe
cluster projectiles
depth profiling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Study of the morphological effects occuring during a bombardment of atomic and cluster projectiles with keV energies
Badanie efektów morfologicznych podczas bombardowania powierzchni atomami oraz klastrami o energiach keV-owych
Autorzy:: Maciążek, Dawid
Współwytwórcy:: Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2020-10-16
Słowa kluczowe:: rozpylanie
dynamika molekularna
sputtering
SIMS
molecular dynamics
wiązka jonowa
ion beam; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Molecular dynamics computer simulations of organic overlayers erosion caused by an impact of large and slow clusters composed of noble gas atoms
Modelowanie komputerowe mechanizmu erozji warstw organicznych wywołanej strumieniem klasterów o niewielkich prędkościach, zbudowanych z atomów gazów szlachetnych
Autorzy:: Rzeźnik, Łukasz
Współwytwórcy:: Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2010-09-10
Słowa kluczowe:: organic overlayers
rozpylanie
sputtering
modelowanie komputerowe
SIMS/SNMS
pociski klasterowe
cluster projectiles
molecular dynamics
warstwy organiczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "cluster SIMS" wg kryterium: Wszystkie pola