- Tytuł:
- Electrical characterization of Al/Ta₂O₅/Al structures grown by electron beam deposition
- Autorzy:
- Yahia, I. S.
- Współwytwórcy:
- Farag, A. A. M.
- Data publikacji:
- 2014
- Tematy:
- Fizyka
- Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Academica
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.