Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "electronic embedded systems" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-26 z 26
    Tytuł:
    Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
    Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Załęski, D.
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    diagnostyka uszkodzeń
    BIST
    logika rozmyta
    mikrokontrolery
    elektroniczne systemy wbudowane
    fault diagnosis
    fuzzy logic
    microcontrollers
    electronic embedded systems
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
    The new application of shape-designed complementary signals for diagnostic of electronic embedded systems
    Autorzy:
    Załęski, D.
    Bartosiński, B.
    Zielonko, R.
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    testowanie
    elektroniczne systemy wbudowane
    sygnały komplementarne
    projektowanie kształtu sygnału
    mikrokontrolery
    testing
    electronic embedded systems
    complementary signals
    shape design of signals
    microcontrollers
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
    Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    detekcja i lokalizacja uszkodzeń
    samotestowanie
    BIST
    elektroniczne systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    fault detection and localization
    self-testing
    electronic embedded systems
    microcontrollers
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
    Autorzy:
    Załęski, D.
    Bartosiński, B.
    Zielonko, R.
    Data publikacji:
    2007
    Słowa kluczowe:
    testowanie
    elektroniczne systemy wbudowane
    sygnały komplementarne
    projektowanie kształtu sygnału
    mikrokontrolery
    testing
    electronic embedded systems
    complementary signals
    shape design of signals
    microcontrollers
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
    Realization of self-testing of analog parts of electronic embedded systems based on XMEGA A family microcontrollers
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    mikrokontrolery
    przetworniki A/C
    samotestowanie
    układy BIST
    microcontrollers
    ADCs
    self-testing
    measurement
    BISTs
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Dynamiczna rekonfiguracja wątków w systemach czasu rzeczywistego pracujacych w warunkach pełnej powtarzalności czasowej
    Autorzy:
    Pułka, A.
    Milik, A.
    Data publikacji:
    2010
    Słowa kluczowe:
    systemy czasu rzeczywistego
    elektroniczne systemy wbudowane
    powtarzalność czasowa
    przetwarzanie potokowe
    systemy wielozadaniowe
    przetwarzanie informacji
    real-time systems
    electronic embedded systems
    timing repeatability
    multitasking systems
    multithread processing
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami
    Self-testing of an analog part based on fully differential op-amps in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    samotestowanie
    mikrokontroler
    wzmacniacze w pełni różnicowe
    self-testing
    microcontrollers
    fully differential op-amps
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Timing analysis of multitask systems in SystemC environment
    Autorzy:
    Golly, Ł.
    Pułka, A.
    Data publikacji:
    2013
    Słowa kluczowe:
    systemy czasu rzeczywistego
    elektroniczne systemy wbudowane
    analiza czasowa
    systemy wielozadaniowe
    wielowątkowe przetwarzanie informacji
    przetwarzanie potokowe
    real-time systems
    electronic embedded systems
    timing analysis
    multitasking systems
    multithread processing
    pipeline processing
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Time predictable systems based on pipeline processor with interleaving of hardware threads
    Autorzy:
    Golly, Ł.
    Pułka, A.
    Data publikacji:
    2013
    Słowa kluczowe:
    systemy czasu rzeczywistego
    elektroniczne systemy wbudowane
    analiza czasowa
    systemy wielozadaniowe
    wielowątkowe przetwarzanie informacji
    przetwarzanie potokowe
    real-time systems
    electronic embedded systems
    timing analysis
    multitasking systems
    multithread processing
    pipeline processing
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Multitask real-time architecture supporting predictable management and memory system
    Zarządzanie oraz organizacja systemu pamięci wielozadaniowej przewidywalnej czasowo struktury czasu rzeczywistego
    Autorzy:
    Golly, Ł.
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    precision time model
    pipeline interleave
    system-level design
    simulation and modeling
    real-time electronic embedded systems
    precyzyjne modele czasowe
    przeplot wątków
    projektowanie systemowe
    symulacja i modelowanie
    elektroniczne systemy wbudowane czasu rzeczywistego
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Multitask real-time architecture supporting predictable management and memory system
    Autorzy:
    Golly, Ł.
    Data publikacji:
    2014
    Słowa kluczowe:
    precision time model
    pipeline interleave
    system-level design
    simulation and modeling
    real-time electronic embedded systems
    modele czasowe precyzyjne
    przeplot wątków
    projektowanie systemowe
    symulacja i modelowanie
    elektroniczne systemy wbudowane czasu rzeczywistego
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Kowalewski, M.
    Zielonko, R.
    Data publikacji:
    2011
    Słowa kluczowe:
    klasyfikatory neuronowe
    mikrokontrolery
    układy analogowe
    elektrotechnika
    elektroenergetyka
    neural classifiers
    microcontrollers
    analog circuits
    electrical technology
    electrical power engineering
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Przegląd rozwiązań stanowisk laboratoryjnych stosowanych podczas nauki zdalnej
    Overview of the Laboratory Workstation Solutions Used during Remote Learning
    Autorzy:
    Raczyński, Michał
    Biedka, Andrzej
    Data publikacji:
    2023
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    nauka zdalna
    układy elektroniczne
    systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    remote teaching
    electronic circuits
    embedded systems
    microcontrollers
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-26 z 26

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies