Wszystkie pola: electrostatic force microscopy - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "electrostatic force microscopy" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-7 z 7

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Application of Electrostatic Force Microscopy in Nanosystem Diagnostics
Autorzy:: Gotszalk, Teodor Paweł
Współwytwórcy:: Grabiec, Piotr
Rangelow, Ivo W.
Data publikacji:: 2003
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Application of electrostatic force microscopy in nanosystem diagnostics
Autorzy:: Gotszalk, T. P.
Grabiec, P.
Rangelow, I. W.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: electrostatic force microscopy
nanosystem
voltage distribution
capacitance; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Utilization of the electrostatic force microscopy for detection filler grains in nanocomposites
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Utilization of the Electrostatic Force Microscopy for Detection Filler Grains in Nanocomposites
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2009-12
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 07.79.-v
68.37.-d
68.55.aj
68.55.Nq; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: The influence of the electrical field on structures dimension measurement in electrostatic force microscopy mode
Autorzy:: Sikora, Andrzej
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: The influence of the electrical field on structures dimension measurement in electrostatic force microscopy mode
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
electrostatic force microscopy (EFM)
dimensions measurement accuracy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Results obtained for bismuth oxide thin layers carried out by selected scanning microscopies
Autorzy:: Juszczyk-Synowiec, Justyna
Współwytwórcy:: Juszczyk-Synowiec, Justyna
Wydawca:: RepOD
Tematy:: Chemistry
Engineering
Physics
bismuth oxide
electrostatic force microscopy
Kelvin probe force microscopy
atomic force microscopy
thin films
surface electron properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Otwartych Danych

Inne

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-7 z 7

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies