- Tytuł:
- Sensitivity analysis of divergence of ion beam with respect to changes of shape of acceleration grid in Kaufman type ion sources
- Autorzy:
-
Rońda, J.
Osiński, D. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
ion source
extraction of ion beam from plasma source - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech