Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "low-energy electron diffraction" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-10 z 10
Tytuł:
Badanie rekonstrukcji powierzchni kryształu TiO2(110) metodą dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED)
Low energy electron diffraction (LEED) measurements of reconstructed TiO2(110) crystal surfaces.
Autorzy:
Cieślik, Karol
Słowa kluczowe:
low energy electron diffraction, LEED, titanium dioxide, distortions, projection of sphere on a plane, ion beam modified, IBM, ripple, nanostructures
dyfrakcja elektronów niskoenergetycznych, LEED, ditlenek tytanu, zniekształcenia, rzutowanie sfery na płaszczyznę, powierzchnia jonowo zmodyfikowana, IBM, zmarszczki (ang. Ripple), nanostruktury
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Tytuł:
Structure and electronic properties of ionic nano-layers MBE-grown on III-V semiconductors
Autorzy:
Czuba, Paweł
Korecki, Paweł
Szymoński, Marek
Piątkowski, Piotr
Kołodziej, Jacek
Data publikacji:
2000
Słowa kluczowe:
semiconductor-insulator interface
electron holography
surface structure
low energy electron diffraction
molecular beam epitaxy
III-V semiconductor compounds
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Artykuł
Tytuł:
Cienkowarstwowe struktury tlenków metali przejściowych – wytwarzanie oraz ich charakterystyka
Transition metal oxides thin film structures - formation and characterisation
Autorzy:
Popek, Piotr
Słowa kluczowe:
reactive, RF, magnetron, sputtering, deposition, fabrication, titanium, (IV), oxide, dioxide, anatase, rutile, thin, film, annealing, atomic force microscopy, AFM, scanning electron microscopy, SEM, grazing incidence x-ray diffraction, GIXRD, XRD, low energy electron diffraction, LEED, local conductivity, LC-AFM, C-AFM, resistive switching, RS, memristor, memristance,
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Tytuł:
Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów = Application of secondary electron emission, Auger electron spectroscopy and low-energy electron diffraction in the investigation of perfection of a silicon crystal surface
Wykorzystanie wtórnej emisji elektronów, spektroskopii elektronów Augera i dyfrakcji powolnych elektronów do badania składu chemicznego i doskonałości powierzchni monokryształów
Materiały Elektroniczne 1987 nr 1(57)
Autorzy:
Mróz Stefan
Współwytwórcy:
Kozioł Czesław
Chrzanowski Edward
Mroz Alicja
Data publikacji:
1987
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
Auger electron spectroscopy
crystal surface
powierzchnia monokryształu
skład chemiczny
Electronic - journal - material
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-10 z 10

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies