Wszystkie pola: low-frequency noise measurements

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: FET input voltage amplifier for low frequency noise measurements
Autorzy:: Achtenberg, Krzysztof
Mikołajczyk, Janusz
Bielecki, Zbigniew
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: low noise amplifier
low frequency noise measurements
field effect transistors
FET voltage noise
FET input amplifier; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Reliability and low-frequency noise measurements of InGaAsP MQW buried-heterostructure lasers
Autorzy:: Pralgauskaite, S.
Matukas, J.
Palenskis, V.
Šermukšnis, E.
Vyšniauskas, J.
Letal, G.
Mallard, R.
Smetona, S.
Data publikacji:: 2003
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: dioda laserowa
szumy
laser diode
low-frequency noise
optical noise
electrical noise
correlation factor
reliability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: FET input voltage amplifier for low frequency noise measurements
Autorzy:: Achtenberg, Krzysztof
Mikołajczyk, Janusz
Bielecki, Zbigniew
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: low noise amplifier
low frequency noise measurements
field effect transistors
FET voltage noise
FET input amplifier; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Observation of Thermally-Activated Electron Traps in GaAs/AlAs/GaAs Heterostructures in Low-Frequency Noise Measurements
Autorzy:: Przybytek, J.
Stankiewicz, R.
Gryglas-Borysiewicz, M.
Baj, M.
Cavanna, A.
Faini, G.
Data publikacji:: 2011-05
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 73.50.Td
73.40.Gk; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Reliability and low-frequency noise measurements of InGaAsP MQW buried-heterostructure lasers
Autorzy:: Pralgauskaite, S.
Matukas, J.
Palenskis, V.
Šermukšnis, E.
Vyšniauskas, J.
Letal, G.
Mallard, R.
Smetona, S.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: dioda laserowa
szumy
laser diode
low-frequency noise
optical noise
electrical noise
correlation factor
reliability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: On the design of an automated system for the characterization of the electromigration performance of advanced interconnects by means of low-frequency noise measurements
Autorzy:: Scandurra, Graziella
Beyne, Sofie
Giusi, Gino
Ciofi, Carmine
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: low-frequency noise measurements
electron devices reliability
electro-migration
dedicated instrumentation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: On the design of an automated system for the characterization of the electromigration performance of advanced interconnects by means of low-frequency noise measurements
Autorzy:: Scandurra, Graziella
Beyne, Sofie
Giusi, Gino
Ciofi, Carmine
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: low-frequency noise measurements
electron devices reliability
electro-migration
dedicated instrumentation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Noise spectroscopy of resistive components at elevated temperature
Autorzy:: Stadler, A. W.
Zawiślak, Z.
Dziedzic, A.
Nowak, D.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: noise spectroscopy
low-frequency noise
resistance noise
low-frequency noise measurements
thick-film resistors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Noise spectroscopy of resistive components at elevated temperature
Autorzy:: Stadler, A.W.
Zawiślak, Z.
Dziedzic, A.
Nowak, D.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: noise spectroscopy
low-frequency noise
resistance noise
low-frequency noise measurements
thick-film resistors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Noise Measurements Of Resistors With The Use Of Dual-Phase Virtual Lock-In Technique
Autorzy:: Stadler, A. W.
Kolek, A.
Zawiślak, Z.
Dziedzic, A.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: 1/f noise
polymer thick-film resistor
low-frequency noise measurements
virtual lock-in; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "low-frequency noise measurements" wg kryterium: Wszystkie pola