Wszystkie pola: low-frequency noise spectroscopy

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "low-frequency noise spectroscopy" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-11 z 11

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Further improvement of Pb/Cd-free CaRuO3 thick-film resistors
Autorzy:: Stadler, A. W.
Zawiślak, Z.
Kolek, A.
Kiełbasiński, K.
Jakubowska, M.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: rezystor grubowarstwowy
szum niskoczęstotliwościowy
szum 1/f
nisko-częstotliwościowa spektroskopia szumowa
thick film resistor
1/f noise
low-frequency noise
low-frequency noise spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Właściwości elektryczne grubowarstwowych rezystorów na bazie kompozycji polimerowych z nanorurkami węglowymi
Autorzy:: Stadler, A. W.
Kolek, A.
Mleczko, K.
Zawiślak, Z.
Ptak, P.
Słoma, M.
Jakubowska, M.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: nanorurki węglowe
szum 1/f
szum niskoczęstotliwościowy
niskoczestotliwościowa spektroskopia szumowa
rezystor grubowarstwowy
carbon nanotube
1/f noise
low-frequency noise
low-frequency noise spectroscopy
thick film resistor; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Noise spectroscopy of resistive components at elevated temperature
Autorzy:: Stadler, A. W.
Zawiślak, Z.
Dziedzic, A.
Nowak, D.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: noise spectroscopy
low-frequency noise
resistance noise
low-frequency noise measurements
thick-film resistors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Noise spectroscopy of resistive components at elevated temperature
Autorzy:: Stadler, A.W.
Zawiślak, Z.
Dziedzic, A.
Nowak, D.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: noise spectroscopy
low-frequency noise
resistance noise
low-frequency noise measurements
thick-film resistors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Źródła szumów w rezystorach grubowarstwowych na bazie dwutlenku rutenu
Autorzy:: Kolek, A.
Zawislak, Z.
Stadler, A. W.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: rezystory grubowarstwowe
szumy niskoczęstotliwościowe
dwutlenek rutenu
spektroskopia szumowa
thick film resistors
low-frequency noise
ruthenium dioxide
noise spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Ageing of cadmium telluride radiation detectors and its diagnostics with low frequency noise
Autorzy:: Andreev, A.
Sik, O.
Grmela, L.
Sikula, J.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: noise spectroscopy
CdTe radiation detectors
ageing process; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Ageing of cadmium telluride radiation detectors and its diagnostics with low frequency noise
Autorzy:: Andreev, A.
Sik, O.
Grmela, L.
Sikula, J.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: noise spectroscopy
CdTe radiation detectors
ageing process; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Zjawiska fluktuacyjne w obszarze interfejsu warstw rezystora grubowarstwowego
Autorzy:: Stadler, A. W.
Kolek, A.
Zawiślak, Z.
Mleczko, K.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: rezystor grubowarstwowy
szumy m. cz.
obszar przykontaktowy
efekt wymiarowy
spektroskopia szumowa
relaksacja naprężeń
thick film resistor
low-frequency noise
contacts area
dimensional efect
noise spectroscopy
stress relaxation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Spektroskopia szumowa. Cz. 1, System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych
Autorzy:: Chobola, Z.
Hasse, L.
Sikula, J.
Spiralski, L.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: diagnostyka szumowa
system do pomiaru szumów małoczęstotliwościowych
wady montażu tranzystorów
noise diagnostics
system for low frequency noise measurement
packaging defects of transistors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Unconventional methods of non-destructive tests. Part 2
Autorzy:: Rawicki, Łukasz
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: Barkhausen noise testing
potential drop method
low-frequency impedance spectroscopy
LFIS
magnetic flux leakage
MFL
metoda szumów Barkhausena
metoda potencjałowa
niskoczęstotliwościowa spektroskopia impedancji
wyciek strumienia magnetycznego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Porównanie możliwości diagnostycznych metod magnetycznej pamięci metalu, szumu Barkhausena i niskoczęstotliwościowej impedancji
Autorzy:: Roskosz, M.
Witoś, M.
Żurek, Z. H.
Fryczowski, K.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: mikrostruktura
przenikalność magnetyczna
konduktywność
degradacja materiału
badanie nieniszczące
system monitorowania konstrukcji
microstructure
magnetic permeability
conductivity
material degradation
non destructive test
structural health monitoring; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-11 z 11

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "low-frequency noise spectroscopy" wg kryterium: Wszystkie pola