Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "mixed-signal circuits" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-21 z 21
Tytuł:
Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits
Autorzy:
Spyronasios, A. D.
Dimopoulos, M. G.
Hatzopoulos, A. A.
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
analogowy i mieszany test sygnału
test obwodu
falki
odległość Mahalanobisa
Analog and Mixed-Signal Testing
Circuit Test
wavelets
Mahalanobis distance
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Lokalizacja uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo metodą sygnaturową
Autorzy:
Adamczyk, A.
Data publikacji:
2005
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4
Autorzy:
Bartosiński, B.
Data publikacji:
2004
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Metoda testowania wbudowanych układów analogowych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali IEEE Std 1149.4
Autorzy:
Borkowska, M.
Data publikacji:
2001
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-21 z 21

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies