Wszystkie pola: parametric circuits

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Numerical analysis of parametric circuits
Autorzy:: Lipiński, Wojciech (1944- )
Data publikacji:: 2012
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Numerical analysis of parametric circuits
Autorzy:: Lipiński, W.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: numerical analysis
PSpice program
mathcad; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Frequency symbolic models of linear parametric circuits
Współwytwórcy:: Lipiński, Jan
Data publikacji:: 2012
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Optimization of linear parametric circuits in the frequency domain
Autorzy:: Shapovalov, Yu.
Mandziy, B.
Bachyk, D.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Oddział w Lublinie PAN
Tematy:: symbolic frequency method
objective function
function – characteristics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Frequency symbolic models of linear parametric circuits
Autorzy:: Shapovalov, Y.
Mandziy, B.
Smal, D.
Lipinski, J.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: obwód zmienny w czasie
analiza symboliczna
linear parametric circuits
symbolic analysis
frequency symbolic models; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Peculiarities of frequency symbolic method applied to parametric circuits analysis
Autorzy:: Shapovalov, Yuriy
Współwytwórcy:: Mandziy, Bogdan
Mankovsky, Spartak
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Numerical analysis of parametric circuits
Autorzy:: Lipiński, W.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: numerical analysis
PSpice program
mathcad; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Peculiarities of frequency symbolic method applied to parametric circuits analysis
Autorzy:: Shapovalov, Y.
Mandziy, B.
Mankovsky, S.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: analiza symboliczna
parametryczne obwody liniowe
oszacowanie stabilności asymtotycznej
symbolic analysis
linear parametric circuits
assessment of asymptotic stability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Mathematical model of linear parametric circuits relative to their external nodes
Autorzy:: Shapovalov, Y.
Mandziy, B.
Mankovsky, S.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: analiza symboliczna
liniowe obwody parametryczne
symbolic analysis
linear parametric circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Time-Domain Synthesis of Linear Circuits With Periodically Variable Parameters
Autorzy:: Siwczyński, M.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: układ parametryczny
synteza
optymalizacja
parametric circuits
synthesis
optimisation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Time-Domain Synthesis of Linear Circuits With Periodically Variable Parameters
Autorzy:: Siwczyński, M.
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:: układ parametryczny
synteza
optymalizacja
parametric circuits
synthesis
optimisation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: The peculiarities of analysis of linear parametric circuit performed by frequency-symbolic method
Autorzy:: Shapovalov, Y.
Mandziy, B.
Mankovsky, S.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: analiza symboliczna
liniowe obwody parametryczne
symbolic analysis
linear parametric circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Optimization of linear parametric circuits in the frequency domain
Autorzy:: Shapovalov, Y.
Mandziy, B.
Bachyk, D.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: symbolic frequency method
objective function
function – characteristics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: The Modified Frequency Symbolic Models (FSMs) of Linear Periodically Time-Variable Circuits
Autorzy:: Shapovalov, Y.
Mandziy, B.
Smal, D.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: linear parametric circuits
symbolic analysis
frequency symbolic models
obwody parametryczne liniowe
analiza symboliczna
modele symboliczne częstotliwościowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors
Autorzy:: Kuczyński, Andrzej
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors
Autorzy:: Kuczyński, A.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: układy analogowe
wykrywanie uszkodzeń
dyskretna transformata falkowa
jednokierunkowe sieci neuronowe
analog circuits
fault detection
discrete wavelet transform
feedforward neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Frequency symbolic analysis of linear periodically time-varying circuits with many parametric elements
Autorzy:: Shapovalov, Yuriy
Współwytwórcy:: Mandziy, Bohdan
Data publikacji:: 2014
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Frequency Symbolic Analysis of Linear Periodically Time-Varying Circuits with Many Parametric Elements
Autorzy:: Shapovalov, T.
Mandziy, B.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: linear periodically time-variable circuits
frequency symbolic method
liniowe obwody parametryczne
analiza częstotliwościowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych
Autorzy:: Jantos, P.
Grzechca, D.
Golonek, T.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: analogowy układ scalony
globalne uszkodzenia parametryczne
testowanie
analogue integrated circuits
global parametric faults
testing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Rozpoznawanie uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych występujących jednocześnie, w nieliniowych układach analogowych
Autorzy:: Kuczyński, A.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: analiza uszkodzeń
metody słownikowe
dyskretna transformata falkowa
sztuczne sieci neuronowe
elektrotechnika
elektroenergetyka
fault recognition
dictionary method
discrete wavelet transform
neural networks
electrical technology
electrical power engineering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: Sieć neuronowa z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi do klasyfikacji uszkodzeń parametrycznych układów analogowych
Autorzy:: Kowalewski, M.
Data publikacji:: 2006
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Assessment of stability margin of linear parametric amplifiers by the frequency symbolic method
Autorzy:: Shapovalov, Y.
Mandziy, B.
Bachyk, D.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: frequency symbolic method
linear periodically time-variable circuits
asymptotic stability
parametric amplifier
metoda symboliczna analizy
stabilność asymptotyczna
wzmacniacz parametryczny; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Szybka metoda wyznaczania wielowymiarowościowych charakterystyk w układach nieliniowych
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: charakterystyki wejściowo-wyjściowe
charakterystyki parametryczne
układy nielinowe
input-output characteristics
nonlinear circuits
parametric characteristics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: Metody symulacji i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
Autorzy:: Hałgas, S.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: układy analogowe
analogowy układ elektroniczny
wielokrotne uszkodzenia parametryczne
symulacja obwodów
diagnostyka analogowych układów elektronicznych
analogue circuits
analogue electronic circuits
multiple parametric faults
circuits simulation
diagnosis in analogue eletronics circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych µBIST
Autorzy:: Kowalewski, M.
Zielonko, R.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń układów analogowych
uszkodzenia parametryczne
sieci neuronowe
testery wbudowane
analog circuits fault diagnosis
parametric faults
neural networks
Built-in Self-Testers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:: Soft Fault Clustering in Analog Electronic Circuits with the Use of Self Organizing Neural Network
Autorzy:: Grzechca, D.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: fault detection
parametric faults
analogue electronic circuits
self-organizing neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:: The parametric fault detection algorithm in electronic circuits based in bilinear transformation
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: bilineary transformation
parametric faults
detecting single parametric faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:: Global parametric fault identification in analog electronic circuits
Autorzy:: Jantos, Piotr
Współwytwórcy:: Grzechca, Damian
Rutkowski, Jerzy (elektronik)
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:: Global parametric fault identification in analog electronic circuits
Autorzy:: Jantos, P.
Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: global parametric fault
identification
artificial neural networks; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:: Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits
Autorzy:: Jantos, P.
Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analogue integrated circuits
fault diagnosis
localization
identification
evolutionary algorithms; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:: Soft Fault Clustering in Analog Electronic Circuits with the Use of Self Organizing Neural Network
Autorzy:: Grzechca, D.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: fault detection
parametric faults
analogue electronic circuits
self-organizing neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:: Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits
Autorzy:: Jantos, P.
Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: analogue integrated circuits
fault diagnosis
localization
identification
evolutionary algorithms; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:: Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits
Autorzy:: Jantos, Piotr
Współwytwórcy:: Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki
Data publikacji:: 2012
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 34.

Tytuł:: Evolutionary methods to analogue electronic circuits yield optimization
Autorzy:: Jantos, P.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: evolutionary algorithms
parametric yield
production cost
optimization
computation cost; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 35.

Tytuł:: Korekcja zniekształceń nieliniowych wprowadzanych przez układy wejściowe systemów pomiarowych metodą odwrotnego operatora cykloparametrycznego
Autorzy:: Kłosiński, R.
Kozioł, M.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: transformator prądowy
korekcja
operator cykloparametryczny
identyfikacja
current transformer
correction
circular parametric operator
identification; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 36.

Tytuł:: Rozpoznawanie uszkodzeń parametrycznych, w nieliniowych układach analogowych, przy wykorzystaniu transformacji falkowej i sztucznej sieci neuronowej
Autorzy:: Kuczyński, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: analiza uszkodzeń
uszkodzenia parametryczne
dyskretna transformata falkowa
sztuczne sieci neuronowe
fault diagnosis
analog circuit
parametric faults
dictionary method
wavelet transform
neural networks; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 37.

Tytuł:: Ewolucyjny dobór pobudzenia do diagnozowania uszkodzeń w układach analogowych
Autorzy:: Korzybski, M.
Ossowski, M.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń
uszkodzenia parametryczne
uszkodzenia katastroficzne
dobór pobudzenia
układy CMOS
elektrotechnika
elektroenergetyka
fault diagnostic
parametric fault
catastrophic fault
stimuli selection
CMOS circuit
electrical technology
electrical power engineering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "parametric circuits" wg kryterium: Wszystkie pola