Wszystkie pola: plane device

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Uniwersalny zestaw pomiarowy w zastosowaniach mobilnych
Autorzy:: Martyniak, T.
Świszcz, P.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: zestaw pomiarowy
zastosowania mobilne
CAN bus
kit of X – Y
plane device; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Fatigue strength of wood polymer composite
Autorzy:: Kyzioł, L.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: modified wood
mechanical properties
fatigue strength
device to inflict plane stress; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Fatigue strength of wood polymer composite
Autorzy:: Kyzioł, L.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych
Tematy:: modified wood
mechanical properties
fatigue strength
device to inflict plane stress; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Shear stress in measuring section of the sample with modified wood
Autorzy:: Kyzioł, L.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych
Tematy:: modified wood
mechanical properties
Iosipescu shear test
device to inflict plane stress; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Shear stress in measuring section of the sample with modified wood
Autorzy:: Kyzioł, L.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: modified wood
mechanical properties
Iosipescu shear test
device to inflict plane stress; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Implementacja algorytmów korekcji niejednorodności matryc detektorów mikrobolometrycznych w układzie FPGA
Implementation of nonuniformity correction algorithms of microbolometer focal plane arrays in FPGA device
Autorzy:: Orżanowski, T.
Sosnowski, T.
Data publikacji:: 2006
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: mikrobolometr
korekcja niejednorodności
FPGA
microbolometer
nonuniformity correction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Implementacja algorytmów korekcji niejednorodności matryc detektorów mikrobolometrycznych w układzie FPGA
Autorzy:: Orżanowski, T.
Sosnowski, T.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: mikrobolometr
korekcja niejednorodności
FPGA
microbolometer
nonuniformity correction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Implementacja algorytmu korekcji niejednorodności odpowiedzi matrycy mikrobolometrycznej w układzie programowalnym
Implementation of response nonuniformity correction algorithm of microbolometer focal plane array in programmable logic device
Autorzy:: Orżanowski, T.
Sosnowski, T.
Kastek, M.
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: mikrobolometr
korekcja niejednorodności
układ FPGA
micobolometer
nonuniformity correction
FPGA device; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Implementacja algorytmu korekcji niejednorodności odpowiedzi matrycy mikrobolometrycznej w układzie programowalnym
Autorzy:: Orżanowski, T.
Sosnowski, T.
Kastek, M.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikrobolometr
korekcja niejednorodności
układ FPGA
micobolometer
nonuniformity correction
FPGA device; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Methodological aspects of determining the coefficient of kinetic friction of wheat kernels on an inclined plane
Autorzy:: Konopka, S.
Kolankowska, E.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: coefficient of kinetic friction of seeds
inclined plane
mechatronic measuring device
kinetyczny współczynnik tarcia nasion
metoda równi pochyłej
mechatroniczne urządzenie pomiarowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Methodological aspects of determining the coefficient of kinetic friction of wheat kernels on an inclined plane
Metodyczne aspekty wyznaczania kinetycznego współczynnika tarcia ziarniaków pszenicy metodą równi pochyłej
Autorzy:: Konopka, S.
Kolankowska, E.
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: coefficient of kinetic friction of seeds
inclined plane
mechatronic measuring device
kinetyczny współczynnik tarcia nasion
metoda równi pochyłej
mechatroniczne urządzenie pomiarowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Device physics and focal plane array applications of QWIP and MCT
Autorzy:: Tidrow, M. Z.
Beck, W. A.
Clark, W. W.
Pollehn, H. K.
Little, J. W.
Dhar, N. K.
Leavitt, R. P.
Kennerly, S. W.
Beekman, D. W.
Goldberg , A. C.
Dyer, W. R.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: IR detectors
HgCdTe
QWIP
focal plane arrays
multicolor IR detection
low background; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Basic Logic Gates in Two Dimensional Photonic Crystals for All Optical Device Design
Autorzy:: Sonth, Mahesh V
Srikanth, Gimmadi
Agrawal, Pankaj
Premalatha, B.
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: basic gates
photonic crystals
finite difference time domain
plane wave expansion
photonic band gap; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Basic Logic Gates in Two Dimensional Photonic Crystals for All Optical Device Design
Autorzy:: Sonth, Mahesh V
Srikanth, Gimmadi
Agrawal, Pankaj
Premalatha, B.
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: basic gates
photonic crystals
finite difference time domain
plane wave expansion
photonic band gap; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Zastępcza przenikalność magnetyczna dla ferrytów mikrofalowych, w których rozchodzi się płaska fala EM pod kątem φ względem polaryzującego pola magnetycznego
Autorzy:: Sędek, E.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: przenikalność magnetyczna
mikrofalowy podzespół ferrytowy
mikrofalowe materiały ferrytowe
parametry materiałów ferrytowych
magnetic permeability
microwave ferrite device
microwave ferrite materials
ferrite material parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "plane device" wg kryterium: Wszystkie pola