Wykorzystanie mikroskopii skaningowej w ocenie wytrzymałości okrywy nasiennej soi, grochu i soczewicy Scaning microscopy in estimation of the seed coat strength of soybean, pea, and lentil seed
Wykorzystanie mikroskopii skaningowej w ocenie wytrzymałości okrywy nasiennej soi, grochu i soczewicy Scaning microscopy in estimation of the seed coat strength of soybean, pea, and lentil seed
Zastosowanie dyfrakcji promieni X i skaningowej mikroskopii elektronowej do badania struktury i ultrastruktury drewna Ispol'zovanie difrakcii luchej X i skanningovoj alektronnoj mikroskopii v issledovaniyah struktury i ul'trastruktury drevesiny Application of X rays diffraction and scaning electric microscopy in investigations of the structure and ultrastructure of wood
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
Godziny pracy Biblioteki ANS im. H. Cegielskiego
poniedziałek 8:00 – 15:30
wtorek 8:00 – 15:30
środa 8:00 – 15:30
czwartek 8:00 – 15:30
piątek 8:00 – 15:30
sobota Nieczynne
W koszyku znajdują się zamówienia
W koszyku znajdują się zamówienia do wysłania. Czy chcesz wysłać je do realizacji?
