Wszystkie pola: specification driven testing

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain responses features
Autorzy:: Jantos, Piotr
Współwytwórcy:: Rutkowski, Jerzy (elektronik)
Golonek, Piotr
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Application of Neural Network for Testing Selected Specification Parameters of Voltage-Controlled Oscillator
Autorzy:: Grzechca, D.
Temich, S.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: specification driven testing
voltage controlled oscillator
ring oscillator
artificial neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Application of Neural Network for Testing Selected Specification Parameters of Voltage-Controlled Oscillator
Autorzy:: Grzechca, D.
Temich, S.
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: specification driven testing
voltage controlled oscillator
ring oscillator
artificial neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Sterowane specyfikacją układów analogowych z wykorzystaniem aproksymacji w dziedzinie cech odpowiedzi
Autorzy:: Jantos, P.
Golonek, T.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: testowanie sterowane specyfikacją
triangulacja Delaunaya
układy analogowe
specification driven testing
Delaunay's triangulation
analogue circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
Autorzy:: Golonek, T.
Chruszczyk, Ł.
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: analog electronic circuits
specification driven testing
evolutionary computations
multiple regression
obwód elektroniczny analogowy
test oparty na specyfikacji
obliczenia ewolucyjne
regresja wielokrotna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego
Autorzy:: Jantos, P.
Golonek, T.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: triangulacja Delaunaya
testowanie funkcjonalne
analogowy układ elektroniczny
sztuczna sieć neuronowa
elektrotechnika
elektroenergetyka
Delaunay's triangulation
specification driven test
analogue electronic circuits
neural classifier
electrical technology
electrical power engineering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja