Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "surface diffraction" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Effect of solvents on structural anisotropy of polyaniline thin films
Wpływ rozpuszczalnika na anizotropię cienkich warstw polianiliny
Autorzy:
Śniechowski, M.
Kozik, T.
Łużny, W.
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Chemii Przemysłowej
Tematy:
polyaniline
surface diffraction
simulations
film anisotropy
solvent
polianilina
dyfrakcja powierzchniowa
symulacje
anizotropia cienkich warstw
rozpuszczalnik
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Spectroscopic and diffraction studies of chemical deposition of copper sulfide films on polyamide surface using potassium pentathionate
Autorzy:
Krylova, V.
Data publikacji:
2007
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
Tytuł:
Prace IPPT IFTR Reports ; 2/1984
The exact surface impedance approach to problems of diffraction in open waveguides
Autorzy:
Nasalski, Wojciech
Data publikacji:
1984
Wydawca:
Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Słowa kluczowe:
Optyka zintegrowana
Falowody
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Two-way ANOVA gage R&R working example applied to speckle intensity statistics due to different random vertical surface roughness characteristics using the Fresnel diffraction integral
Autorzy:
Cywiak, Moisés
Cywiak, David
Yáñez, Etna
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
speckle pattern
ANOVA and gage R&R
autocorrelation
Fresnel diffraction integral
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Structure and electronic properties of ionic nano-layers MBE-grown on III-V semiconductors
Autorzy:
Piątkowski, Piotr
Szymoński, Marek
Czuba, Paweł
Korecki, Paweł
Kołodziej, Jacek
Data publikacji:
2000
Słowa kluczowe:
semiconductor-insulator interface
molecular beam epitaxy
surface structure
low energy electron diffraction
III-V semiconductor compounds
electron holography
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies