Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "synchrotron diffraction" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-30 z 30
Tytuł:
Synchrotron Radiation Diffraction Studies of Magnetic Materials
Autorzy:
Brückel, Th.
Data publikacji:
1997-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.25.+z
75.40.-s
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Thermal behaviour of PrCo₁₋xFexO₃ probed by X-ray synchrotron powder diffraction and impedance spectroscopy measurements
Współwytwórcy:
Suhak, Yuriy. Autor
Sugak, Dmytro Ûrijovič. Autor
Ubìzsʹkij, Sergìj Borisovič. Autor
Fritze, Holger. Autor
Pekìnčak, Ol'ga Volodimirìvna. Autor
Vasilečko, Leonid Orestovič. Autor
Data publikacji:
2018
Tematy:
Sieć krystaliczna
Kryształy
Właściwości fizyczne
Spektroskopia impedancyjna
Krystalografia rentgenowska
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
Tytuł:
Instrumentation and Methods for Powder Diffraction with Synchrotron Radiation
Autorzy:
Wroblewski, T.
Data publikacji:
1992-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
07.85.+n
61.10.Lx
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Earth Materials at High Pressure and Temperature: Recent Contributions from in situ Synchrotron X-Ray Diffraction
Autorzy:
Redfern, S. A. T.
Data publikacji:
1997-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
64.60.-i
07.35.+k
91.35.-x
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-ray diffraction topography
Autorzy:
Wierzchowski, W.
Malinowska, A.
Wieteska, K.
Wierzbicka, E.
Mazur, K.
Lefeld-Sosnowska, M.
Świrkowicz, M.
Łukasiewicz, T.
Data publikacji:
2016
Słowa kluczowe:
X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
defekty sieci krystalicznej
metoda Czochralskiego
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-ray diffraction topography
Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Autorzy:
Wierzchowski, W.
Malinowska, A.
Wieteska, K.
Wierzbicka, E.
Mazur, K.
Lefeld-Sosnowska, M.
Świrkowicz, M.
Łukasiewicz, T.
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
defekty sieci krystalicznej
metoda Czochralskiego
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Prace ITME 1994 z. 44
Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych
Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych = The study of single crystals and epitaxial layers with the use synchrotron radiation and simulation of diffraction images
Autorzy:
Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:
1994
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
Si
Elektronika - czasopismo - materialy
Materiały elektroniczne
Electronic materials
topografia synchrotronowa
AIIIBV
synchrotron topography
Electronic - journal - material
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Time-Resolved Pump-Probe Diffraction Experiment at SOLEIL Synchrotron: Photoinduced Spin Transition in the Molecular Crystal [TPA Fe(III) TCC] $PF_6$
Autorzy:
Laulhé, C.
Ravy, S.
Fertey, P.
Elkaim, E.
Legrand, F.
Féret, P.
Hollander, Ph.
Hustache, S.
Bordessoule, M.
Ricaud, J.
Collet, E.
Lorenc, M.
Buron-Le Cointe, M.
Cailleau, H.
Tissot, A.
Boillot, M.
Data publikacji:
2012-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.50.Ks
61.05.cp
31.70.Ks
78.47.J-
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Data processing programs for analysis of diffraction images of macromolecular crystals recorded using synchrotron radiation
Autorzy:
Gilski, M.
Data publikacji:
2012
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
Tytuł:
Data Processing Programs for Analysis of Diffraction Images of Macromolecular Crystals Recorded using Synchrotron Radiation
Autorzy:
Gilski, M.
Data publikacji:
2012-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.10.-i
07.85.Qe
61.05.cp
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:
Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:
Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:
2016
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna
metoda Czochralskiego
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-30 z 30

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies