Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "system X-Ray" wg kryterium: Wszystkie pola


Artykuł
Tytuł:
Measurement Capabilities Upgrade of GEM Soft X-ray Measurement System for Hot Plasma Diagnostics
Autorzy:
Linczuk, Pawel
Wojenski, Andrzej
Kolasinski, Piotr
Krawczyk, Rafal
Zabolotny, Wojciech
Pozniak, Krzysztof
Chernyshova, Maryna
Czarski, Tomasz
Gaska, Michal
Kasprowicz, Grzegorz
Malinowski, Karol
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
measurement system
GEM
DAQ
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Soft X-ray Diagnostic System Upgrades and Data Quality Monitoring Features for Tokamak Usage
Autorzy:
Wojenski, Andrzej
Linczuk, Paweł
Piotr, Kolasinski
Chernyshova, Maryna
Mazon, Didier
Kasprowicz, Grzegorz
Pozniak, Krzysztof T.
Gaska, Michał
Czarski, Tomasz
Krawczyk, Rafał
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
data quality monitoring
FPGA
Verilog/VHDL
HDL
GEM detector
SXR plasma diagnostics
modular measurement system
data evaluation
tokamak
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Pomiary skuteczności wentylacji w pomieszczeniu rentgena w szpitalu powiatowym
Measurements of the effectiveness of the ventilation system in an x-ray room in a county hospital
Autorzy:
Gładyszewska-Fiedoruk, K.
Gajewski, A.
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Białostocka. Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
Tematy:
wentylacja
skuteczność
ventilation
effectiveness
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Artykuł
Tytuł:
Advanced Real-time Evaluation and Data Quality Monitoring Model Integration with FPGAs for Tokamak High-performance Soft X-ray Diagnostic System
Autorzy:
Wojenski, A.
Poźniak, K.
Mazon, D.
Chernyshova, M.
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
data quality monitoring
system modeling
FPGA
Verilog/VHDL
HDL
GEM detector
SXR plasma diagnostics
modular measurement system
data evaluation
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Przemysłowe akceleratory elektronów i ich zastosowania w kontroli ładunków cargo System zaawansowanego skanowania obrazowego ARCI S Wyniki testów prototypu
Autorzy:
Sylwester, Bułka
Data publikacji:
2025
Słowa kluczowe:
kontrola ładunku
akcelerator elektronów
obrazowanie rentgenowskie
cyfrowe przetwarzanie obrazu
cargo inspection
electron accelerator
X-ray imaging
digital image processing
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies