Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:

Topological analysis and diagnosis of analog circuits

Autorzy:

Starzyk, J.

Data publikacji:

2007

Słowa kluczowe:

układ analogowy
analiza topologiczna
diagnostyka układów
lokalizacja uszkodzeń
testowanie układów
analog circuit
topological analysis
diagnosis of circuits
fault location
testing of circuits

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:

Laboratory station for reliability testing of digital circuits using signature analysis

Autorzy:

Jadczak, K.
Białek, R.

Data publikacji:

2018

Słowa kluczowe:

signature analysis
diagnosis of digital systems
analiza sygnatur
diagnostyka układów cyfrowych

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:

A fault verification method for testing of analogue electronic circuits

Autorzy:

Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.

Data publikacji:

2018

Wydawca:

Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN

Tematy:

analogue circuits
multiple-fault diagnosis
Powell's method
verification technique

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:

Badanie układów komutacyjnych w kształceniu inżynierów informatyki
Testing of switching circuits in education of computer science engineers

Autorzy:

MARSZAŁEK, ALEKSANDER

Data publikacji:

2016

Wydawca:

Uniwersytet Rzeszowski

Tematy:

edukacja informatyczna
układy komutacyjne
multiplekser
demultiplekser
techniczne środki kształcenia
computer science education
switching circuit
multiplexer
demultiplexer
teaching aids

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:

Badanie układów komutacyjnych w kształceniu inżynierów informatyki
Testing of switching circuits in education of computer science engineers

Autorzy:

MARSZAŁEK ALEKSANDER

Data publikacji:

2016

Tematy:

edukacja informatyczna
układy komutacyjne
multiplekser
demultiplekser
techniczne środki kształcenia
computer science education
switching circuit
multiplexer
demultiplexer
teaching aids

Pokaż więcej

Dostawca treści:

CEJSH

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:

Badanie układów komutacyjnych w kształceniu inżynierów informatyki = Testing of switching circuits in education of computer science engineers

Autorzy:

Marszałek, Aleksander. Autor

Data publikacji:

2016

Tematy:

Informatyka
Szkolnictwo wyższe
Kształcenie

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Academica

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:

Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits

Autorzy:

Chruszczyk, L.

Współwytwórcy:

Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki

Data publikacji:

2007

Dostawca treści:

Academica

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:

A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults

Autorzy:

Toczek, W.

Data publikacji:

2004

Słowa kluczowe:

testowanie układu analogowego
kategoryzacja uszkodzeń
niestabilność indukowana przez uszkodzenie
testing of analog circuits
categorisation of faults
fault-induced instability

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:

A fault verification method for testing of analogue electronic circuits

Autorzy:

Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.

Data publikacji:

2018

Słowa kluczowe:

analogue circuits
multiple-fault diagnosis
Powell's method
verification technique

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:

Optymalizacja kompresji informacji w testowaniu układów ze ścieżką brzegową

Autorzy:

Mitas, A.

Data publikacji:

1998

Słowa kluczowe:

BSP
JTAG
kompresja informacji
maskowanie
techniki diagnostyczne
testowanie układów cyfrowych
aliasing
compression methods
digital testing
test techniques

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:

Badania szczelności oraz próby ciśnieniowe instalacji chłodniczych

Autorzy:

Tomlein, P.

Data publikacji:

2003

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:

Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits

Autorzy:

Chruszczyk, L.
Grzechca, D.
Rutkowski, J.

Data publikacji:

2007

Słowa kluczowe:

fault detection
fault location
dictionary fault diagnosis
analog electronic circuits
wavelet transform
genetic algorithm

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:

Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits

Autorzy:

Kyzioł, Piotr

Współwytwórcy:

Grzechca, Damian
Rutkowski, Jerzy (elektronik)

Data publikacji:

2010

Dostawca treści:

Academica

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:

Testowanie krawędziowe układów cyfrowych

Autorzy:

Skorupski, A.

Data publikacji:

2004

Słowa kluczowe:

testowanie krawędziowe
łącze JTAG
analiza sygnatur
boundary scan
JTAG
signature analyzer

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:

Optymalizacja kompresji informacji w pseudoprzypadkowym testowaniu układów cyfrowych

Autorzy:

Mitas, A.

Data publikacji:

1999

Słowa kluczowe:

kompresja informacji
maskowanie
techniki diagnostyczne
testowanie pseudoprzypadkowe
układy cyfrowe
aliasing
diagnostic techniques
digital circuits
information compression
pseudorandom testing

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:

Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits

Autorzy:

Kyzioł, P.
Grzechca, D.
Rutkowski, J.

Data publikacji:

2010

Słowa kluczowe:

wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań
CUT
PSO
multidimensional search space
analog circuits
particle swarm optimization (PSO)

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:

Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
Tolerance problem in testing of fully differential electronic circuits

Autorzy:

Toczek, W.

Data publikacji:

2008

Wydawca:

Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN

Tematy:

układ analogowy
testowanie
układy w pełni różnicowe
model probabilistyczny testu
ocena ryzyka
analog circuit testing
fully differential circuits
probabilistic model for test
risk evaluation

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:

Kompatybilność elektromagnetyczna układów scalonych - metody badań emisji i odporności, propozycje dotyczące modelowania

Autorzy:

Kołodziejski, J. F.

Data publikacji:

2003

Słowa kluczowe:

układy scalone
kompatybilność elektromagnetyczna
modelowanie
klatka Faradaya
komora TEM
metoda BCI
integrated circuits
electromagnetic compatibility
modeling
Faraday cage
TEM cell
BCI method

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:

Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych

Autorzy:

Toczek, W.

Data publikacji:

2008

Słowa kluczowe:

układ analogowy
testowanie
układy w pełni różnicowe
model probabilistyczny testu
ocena ryzyka
analog circuit testing
fully differential circuits
probabilistic model for test
risk evaluation

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:

Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych
Demonstrator of BIST for testing and diagnosis of fully differential circuits

Autorzy:

Toczek, W.
Kaczmarczyk-Mróz, K.

Data publikacji:

2014

Wydawca:

Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich

Tematy:

ocena zgodności wyrobów
testery wbudowane BIST
diagnostyka uszkodzeń
conformity assessment
built-in self-test
fault diagnosis

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:

Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych

Autorzy:

Toczek, W.

Data publikacji:

2007

Słowa kluczowe:

technologia samotestowania
układy w pełni różnicowe
built-in self-test
fully differential circuits

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:

Metody analizy wyników badań podatności cyfrowych układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne

Autorzy:

Kuciński, S.

Data publikacji:

2002

Słowa kluczowe:

analiza badań
cyfrowe układy scalone

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:

Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego

Autorzy:

Jantos, P.
Golonek, T.
Rutkowski, J.

Data publikacji:

2011

Słowa kluczowe:

triangulacja Delaunaya
testowanie funkcjonalne
analogowy układ elektroniczny
sztuczna sieć neuronowa
elektrotechnika
elektroenergetyka
Delaunay's triangulation
specification driven test
analogue electronic circuits
neural classifier
electrical technology
electrical power engineering

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:

Badania skutków zwarć zwojowych w uzwojeniach stojana silnika indukcyjnego

Autorzy:

Antal, M.

Data publikacji:

2010

Słowa kluczowe:

silnik indukcyjny
uszkodzenia uzwojenia stojana
pomiary
induction motor
damage to the stator winding
measurement

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:

Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych

Autorzy:

Toczek, W.
Kaczmarczyk-Mróz, K.

Data publikacji:

2014

Słowa kluczowe:

ocena zgodności wyrobów
testery wbudowane BIST
diagnostyka uszkodzeń
conformity assessment
built-in self-test
fault diagnosis

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:

Wybrane problemy pomiaru impedancji pętli zwarciowej w instalacjach z zasilaczami UPS

Autorzy:

Czapp, S.

Data publikacji:

2017

Słowa kluczowe:

low-voltage electrical installation
protection against electric shock
earth fault loop impedance testing
testing methods
instalacje niskiego napięcia
ochrona przeciwporażeniowa
pomiary impedancji pętli zwarciowej metody pomiarowe

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:

Równoległa symulacja uszkodzeń w samotestowalnych układach cyfrowych na procesorze Intel Pentium

Autorzy:

Bojanowicz, D.

Data publikacji:

1999

Słowa kluczowe:

procesor Intel Pentium
charakterystyka
właściwości
metoda symulacji uszkodzeń
Intel Pentium microprocessor
characteristic
specificity
method of fault simulating

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:

Fault modeling and analysis of short defects in CMOS based reversible circuits

Autorzy:

Amaricai, A.
Boncalo, O.

Data publikacji:

2010

Słowa kluczowe:

odwracalne obwody
modelowanie błędów
testowanie
zwarcie
reversible circuits
fault modeling
testing
short

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:

Genetic algorithms in pseudorandom testing of medical digitalcircuits

Autorzy:

Chodacki, M.
Michalski, D.

Data publikacji:

2009

Słowa kluczowe:

algorytmy genetyczne
urządzenia medyczne
symulacja układów cyfrowych
genetic algorithms
medical devices
simulation of digital circuits
pseudorandom testing

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:

On enhancing diagnostic effectiveness of autonomous test structures for digital circuits of medical devices

Autorzy:

Chodacki, M.

Data publikacji:

2010

Słowa kluczowe:

symulacja układów cyfrowych
pseudolosowe testowanie
wbudowany autotest
simulation of digital circuits
pseudorandom testing
built-in self-test

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:

Construction of an Expert System Based on Fuzzy Logic for Diagnosis of Analog Electronic Circuits

Autorzy:

Grzechca, D. E.

Data publikacji:

2015

Słowa kluczowe:

analog circuits fault diagnosis
analog system testing
fuzzy set theory
expert system
sensitivity analysis

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:

Algorithm for Testing Circuit Stability

Autorzy:

Ossowski, M.

Data publikacji:

2002

Słowa kluczowe:

asymptotic stability
dynamic circuits
linear programming

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:

Fault modeling and analysis of short defects in CMOS based reversible circuits

Autorzy:

Amaricai, A.
Boncalo, O.

Data publikacji:

2010

Wydawca:

Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki

Tematy:

odwracalne obwody
modelowanie błędów
testowanie
zwarcie
reversible circuits
fault modeling
testing
short

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 34.

Tytuł:

Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily

Autorzy:

Golonek, T.
Chruszczyk, Ł.

Data publikacji:

2020

Słowa kluczowe:

analog electronic circuits
specification driven testing
evolutionary computations
multiple regression
obwód elektroniczny analogowy
test oparty na specyfikacji
obliczenia ewolucyjne
regresja wielokrotna

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 35.

Tytuł:

Sterowane specyfikacją układów analogowych z wykorzystaniem aproksymacji w dziedzinie cech odpowiedzi

Autorzy:

Jantos, P.
Golonek, T.
Rutkowski, J.

Data publikacji:

2011

Słowa kluczowe:

testowanie sterowane specyfikacją
triangulacja Delaunaya
układy analogowe
specification driven testing
Delaunay's triangulation
analogue circuits

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 36.

Tytuł:

Construction of an Expert System Based on Fuzzy Logic for Diagnosis of Analog Electronic Circuits

Autorzy:

Grzechca, D. E.

Data publikacji:

2015

Wydawca:

Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN

Tematy:

analog circuits fault diagnosis
analog system testing
fuzzy set theory
expert system
sensitivity analysis

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 37.

Tytuł:

The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing

Autorzy:

Golonek, Tomasz

Współwytwórcy:

Grzechca, Damian
Jantos, Piotr

Data publikacji:

2011

Dostawca treści:

Academica

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 38.

Tytuł:

Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych

Autorzy:

Grzechca, D.
Golonek, T.

Data publikacji:

2008

Słowa kluczowe:

testowanie funkcjonalne
symulacja uszkodzeń
układy analogowe
functional testing
fault simulation
analog circuits

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 39.

Tytuł:

On enhancing diagnostic effectiveness of autonomous test structures for digital circuits of medical devices

Autorzy:

Chodacki, M.

Data publikacji:

2010

Wydawca:

Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych

Tematy:

symulacja układów cyfrowych
pseudolosowe testowanie
wbudowany autotest
simulation of digital circuits
pseudorandom testing
built-in self-test

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 40.

Tytuł:

Genetic algorithms in pseudorandom testing of medical digitalcircuits

Autorzy:

Chodacki, M.
Michalski, D.

Data publikacji:

2009

Wydawca:

Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych

Tematy:

algorytmy genetyczne
urządzenia medyczne
symulacja układów cyfrowych
genetic algorithms
medical devices
simulation of digital circuits
pseudorandom testing

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 41.

Tytuł:

Metodyka badań kompatybilności elektromagnetycznej układów scalonych

Autorzy:

Kuciński, S.

Data publikacji:

1999

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 42.

Tytuł:

An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain responses features

Autorzy:

Jantos, Piotr

Współwytwórcy:

Rutkowski, Jerzy (elektronik)
Golonek, Piotr

Data publikacji:

2011

Dostawca treści:

Academica

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 43.

Tytuł:

Analiza topografii układów scalonych VLSI pod kątem ich produkowalności

Autorzy:

Pleskacz W.A.

Data publikacji:

2009

Słowa kluczowe:

topografia układu scalonego
obszar krytyczny
uzysk produkcyjny
defekty produkcyjne
projektowanie pod kątem produkowalności
testowanie napięciowe
testowanie IDDQ
generacja wektorów testowych
integrated circuit layout
critical area
manufacturing yield
manufacturing defects
design for manufacturability
voltage testing
IDDQ testing
test vectors generation

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 44.

Tytuł:

Zastosowanie urządzeń wirtualnych do testowania i aplikacji z wykorzystaniem specjalizowanych układów scalonych
The use of virtual instruments for testing and application with application specific integrated circuits

Autorzy:

Maj, P.

Data publikacji:

2007

Wydawca:

Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich

Tematy:

urządzenia wirtualne
LabVIEW
testowanie układów scalonych
virtual instruments
testing of ASIC

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 45.

Tytuł:

Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus

Autorzy:

Golonek, T.

Data publikacji:

2015

Słowa kluczowe:

analog electronic circuits testing
evolutionary optimization
sigma-delta modulation
pulse density modulation
analogowy układ elektroniczny
optymalizacja ewolucyjna
modulacja sigma-delta
modulacja gęstości impulsów

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 46.

Tytuł:

Zastosowanie urządzeń wirtualnych do testowania i aplikacji z wykorzystaniem specjalizowanych układów scalonych

Autorzy:

Maj, P.

Data publikacji:

2007

Słowa kluczowe:

urządzenia wirtualne
LabVIEW
testowanie układów scalonych
virtual instruments
testing of ASIC

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 47.

Tytuł:

Metoda i podsystem do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym

Autorzy:

Pawłowski, P.

Data publikacji:

2007

Słowa kluczowe:

testowanie układów scalonych
mieszane analogowo-cyfrowe układy scalone SoC
zakłócenia podłożowe
sprzężenie podłożowe
badanie zakłóceń podłożowych
integrated circuits testing
mixed analog-digital integrated circuits SoC
substrate noise
substrate coupling
substrate noise investigation

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 48.

Tytuł:

Laboratory stand for the analysis of conducted disturbances in the car electrical circuits

Autorzy:

Gonscz, D.
Urzędniczok, H.
Domański, W.

Data publikacji:

2017

Słowa kluczowe:

automotive EMC testing
measurements of conducted disturbances
immunity tests against typical disorders

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 49.

Tytuł:

Zastosowanie algorytmu ewolucyjnego do minimalizacji poboru mocy podczas testowania układów cyfrowych

Autorzy:

Słowik, A.

Data publikacji:

2009

Słowa kluczowe:

algorytmy ewolucyjne
sztuczna inteligencja
układy cyfrowe
pobór mocy
evolutionary algorithms
artificial intelligence
digital circuits
power consumption

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 50.

Tytuł:

Laboratory stand for the analysis of conducted disturbances in the car electrical circuits

Autorzy:

Gonscz, D.
Urzędniczok, H.
Domański, W.

Data publikacji:

2017

Wydawca:

Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich

Tematy:

automotive EMC testing
measurements of conducted disturbances
immunity tests against typical disorders

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 51.

Tytuł:

Testing Time Optimization Technique for IEEE 802.15.4z Ultra-Wideband Integrated Circuits

Autorzy:

Tsaturyan, Grigor
Gomtsyan, Hovhannes

Data publikacji:

2024

Słowa kluczowe:

interframe spacing
packet generation
RF circuit testing
sensitivity measurements
test time reduction
UWB

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 52.

Tytuł:

Wykrywanie zwarć zwojowych w maszynach elektrycznych na stacji prób z wykorzystaniem cewki do pomiaru strumienia poosiowego

Autorzy:

Petryna, J.
Sułowicz, M.
Puzio, Ł.
Dziechciarz, A.

Data publikacji:

2015

Słowa kluczowe:

strumień poosiowy
badanie uzwojeń
zwarcia zwojowe
diagnostyka uszkodzeń
modelowanie zwarć
obliczenia polowe
axial flux
winding testing
inter-turn short circuits
diagnosing damages
modeling faults
field calculations

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 53.

Tytuł:

Badanie właściwości magnetycznych materiałów w obwodach ze szczeliną.

Autorzy:

Kusiak, W.
Nowak, J.

Data publikacji:

1998

Słowa kluczowe:

materiały
własności magnetyczne
indukcja magnetyczna
szczelina
obwód magnetyczny
material
magnetic properties
induction
gap
magnetic circuits

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 54.

Tytuł:

Metoda przyspieszonego starzenia w ocenie niezawodności układów elektrycznych zapewniających bezpieczeństwo funkcjonalne

Autorzy:

Samuła, J.

Data publikacji:

2008

Słowa kluczowe:

niezawodność
przyspieszone starzenie
SIL
współczynnik intensywności uszkodzeń
accelerated testing
failure rate
reliability

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 55.

Tytuł:

Wykrywanie zwarć zwojowych w maszynach elektrycznych na stacji prób z wykorzystaniem cewki do pomiaru strumienia poosiowego
Detection of inter-turn short circuits in electrical machines at a testing station using a coil for measuring the axial flux

Autorzy:

Petryna, J.
Sułowicz, M.
Puzio, Ł.
Dziechciarz, A.

Data publikacji:

2015

Wydawca:

Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Napędów i Maszyn Elektrycznych Komel

Tematy:

strumień poosiowy
badanie uzwojeń
zwarcia zwojowe
diagnostyka uszkodzeń
modelowanie zwarć
obliczenia polowe
axial flux
winding testing
inter-turn short circuits
diagnosing damages
modeling faults
field calculations

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 56.

Tytuł:

Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus

Autorzy:

Golonek, T.

Data publikacji:

2015

Wydawca:

Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki

Tematy:

analog electronic circuits testing
evolutionary optimization
sigma-delta modulation
pulse density modulation
analogowy układ elektroniczny
optymalizacja ewolucyjna
modulacja sigma-delta
modulacja gęstości impulsów

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 57.

Tytuł:

On the practical diagnostics of electronic circuits in the frequency domain

Autorzy:

Blagitko, B.
Brygilevych, V.
Rabyk, V.

Data publikacji:

2010

Słowa kluczowe:

diagnostyka
niesprawność
węzłowe potencjały
testowanie
diagnostics
faulty
nodes potential
testing

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 58.

Tytuł:

Model sprzętowo-programistycznej platformy do testowania i uruchamiania wirtualnych systemów mikroprocesorowych

Autorzy:

Pucher, K.
Namiota, J.

Data publikacji:

2009

Słowa kluczowe:

architektura komputerów
układy cyfrowe
FPGA
systemy mikroprocesorowe
computer architecture
digital circuits
microprocessor systems

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 59.

Tytuł:

Testing Time Optimization Technique for IEEE 802.15.4z Ultra-Wideband Integrated Circuits

Autorzy:

Tsaturyan, Grigor
Gomtsyan, Hovhannes

Data publikacji:

2024

Wydawca:

Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy

Tematy:

interframe spacing
packet generation
RF circuit testing
sensitivity measurements
test time reduction
UWB

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 60.

Tytuł:

Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits

Autorzy:

Spyronasios, A. D.
Dimopoulos, M. G.
Hatzopoulos, A. A.

Data publikacji:

2010

Słowa kluczowe:

analogowy i mieszany test sygnału
test obwodu
falki
odległość Mahalanobisa
Analog and Mixed-Signal Testing
Circuit Test
wavelets
Mahalanobis distance

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 61.

Tytuł:

The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing

Autorzy:

Golonek, T.
Jantos, P.
Grzechca, D.

Data publikacji:

2011

Słowa kluczowe:

detekcja uszkodzeń analogowych
pobudzenie testujące
obliczenia ewolucyjne
gęstość widmowa amplitudy
analog faults detection
testing stimuli
evolutionary computations
amplitude density

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 62.

Tytuł:

Metodologia badań obiegów chłodniczych jedno i wielostopniowych w instalacjach chłodniczych. Część II
Testing methodology of one stage and multistage cooling circuits in cooling installations. Part II

Autorzy:

Chlopecki A.

Tematy:

metody badan
obieg chlodniczy
instalacje chlodnicze
pomy cieplne
chlodzenie
chlodziarki
absorpcja
obieg lewobiezny

Pokaż więcej

Dostawca treści:

AGRO

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 63.

Tytuł:

Metodologia badań obiegów chłodniczych jedno- i wielostopniowych w instalacjach chłodniczych. Część I
Testing methodology of one stage and multi stage cooling circuits in cooling instalations

Autorzy:

Chlopecki A.

Tematy:

prace naukowe
prace badawcze
metody badan
obieg chlodniczy
instalacje chlodnicze
pomy cieplne
termodynamika
obieg lewobiezny

Pokaż więcej

Dostawca treści:

AGRO

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 64.

Tytuł:

Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobuzenia testującego analogowe układy elektroniczne

Autorzy:

Grzechca, D.
Golonek, T.
Rutkowski, J.

Data publikacji:

2007

Słowa kluczowe:

wyżarzanie symulowane
optymalizacja pobudzenia
testowanie i diagnostyka układów elektronicznych
simulated annealing
optimization of input stimuli
analog circuit testing and diagnosis

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 65.

Tytuł:

Hallotronowe układy pomiarowe Politechniki Wrocławskiej

Autorzy:

Duchniewicz, J.
Dobrucki, A.
Sadowski, A.

Data publikacji:

2004

Słowa kluczowe:

hallotron
zastosowania
pomiary pola magnetycznego
stabilizacja pola magnetycznego
magnesy trwałe
badania
Hall Generator - applications
magnetic fields
measurement
magnetic field stabilization
permanent magnet - testing

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 66.

Tytuł:

A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus

Autorzy:

Czaja, Z.
Bartosiński, B.

Data publikacji:

2016

Słowa kluczowe:

IEEE1149.1 test bus
fault diagnosis
microcontrollers
analog circuits
magistrala IEEE1149.1
diagnostyka uszkodzeń
mikrokontrolery
układy analogowe

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 67.

Tytuł:

Wyszukiwanie dziur nieparzystych jako jeden z aspektów rozpoznania grafów doskonałych w automatycznej syntezie układów cyfrowych
Recognizing odd-hole free graphs for testing perfect graphs for automatic synthesis of digital circuits

Autorzy:

Mielcarek, K.

Data publikacji:

2007

Wydawca:

Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich

Tematy:

algorytmy rozpoznawania grafów doskonałych
teoria grafów
automatyczna synteza sterowników
prefect graphs
odd-hole free graphs
prefect graphs recognizing algorithms

Pokaż więcej

Dostawca treści:

Biblioteka Nauki

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 68.

Tytuł:

Blok wyzwalania aktywnych układów do sprawdzania wskazań mierników napięć powrotnych

Autorzy:

Guzik, J.

Data publikacji:

2005

Słowa kluczowe:

miernik napięcia
pomiary fizyczne
napięcie powrotne
generator napięcia
tensiometer
physical measurements
recovery voltage
voltage generator

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 69.

Tytuł:

Koncepcja testowania łączników, umożliwiająca określenie ich właściwości, jako elementów wpływających na generację zakłóceń elektromagnetycznych w układach elektronicznych

Autorzy:

Ruszel, P.

Data publikacji:

2009

Słowa kluczowe:

zakłócenia elektromagnetyczne
źródło zakłóceń
klucz elektryczny
pomiary
electromagnetic compatibility
source of disturbances
electric switch
measurements

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 70.

Tytuł:

Metodyka pomiarowa i urządzenia do badania upływności kabli i przewodów elektroenergetycznych stosowanych w podziemnych sieciach górniczych

Autorzy:

Chudorliński, J.
Michalski, P.
Prystupiuk, P.
Przybysz, R.
Wlazło, P.

Data publikacji:

2014

Słowa kluczowe:

metody pomiarowe
badanie upływności
iskrobezpieczeństwo
urządzenia dla przestrzeni zagrożonych wybuchem
measurement methods
leakage current test
intrinsic safety
intrinsically safe circuits and devices

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 71.

Tytuł:

Wyszukiwanie dziur nieparzystych jako jeden z aspektów rozpoznania grafów doskonałych w automatycznej syntezie układów cyfrowych

Autorzy:

Mielcarek, K.

Data publikacji:

2007

Słowa kluczowe:

algorytmy rozpoznawania grafów doskonałych
teoria grafów
synteza sterowników automatyczna
prefect graphs
odd-hole free graphs
prefect graphs recognizing algorithms

Pokaż więcej

Dostawca treści:

BazTech

/5

Artykuł

• na półce

Szczegóły