Wszystkie pola: two-pattern testing - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "two-pattern testing" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-5 z 5

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: An Algorithm of the Test Pairs Minimization by means of the Incompatibility Graph
Autorzy:: Czerwiński, R.
Rudnicki, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: testowanie
pary testowe
uszkodzenia opóźnieniowe
MISR
two-pattern testing
delay faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: An Algorithm of the Test Pairs Minimization by means of the Incompatibility Graph
Algorytm minimalizacji par testowych z użyciem grafu niezgodności
Autorzy:: Czerwiński, R.
Rudnicki, T.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: testowanie
pary testowe
uszkodzenia opóźnieniowe
MISR
two-pattern testing
delay faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: TPG and SA with low power consumption
Autorzy:: Puczko, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: TPG
SA
M-sequence
Geffe generator
BIST
low power
test-per-clock
two-pattern testing
M–sekwencja
generator Geffego
niski pobór mocy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: TPG and SA with low power consumption
Projektowanie generatorów testów (TPG) oraz analizatorów sygnatur (SA) o obniżonym poborze mocy
Autorzy:: Puczko, M.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: TPG
SA
M-sequence
Geffe generator
BIST
low power
test-per-clock
two-pattern testing
M–sekwencja
generator Geffego
niski pobór mocy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Inkrementacyjne sekwencje adresowe o niskim narzucie sprzętowym w dwuprzebiegowych testach krokowych
Autorzy:: Mrozek, I.
Yarmolik, S. V.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: testowanie pamięci RAM
testy krokowe
BIST
uszkodzenia PSF
RAM testing
multiple run march test
march tests
pattern sensitive faults (PSF); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-5 z 5

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies