- Tytuł:
- Advanced characterization of aterial properties on the nanometer scale using atomic force microscopy
- Autorzy:
- Fenner, M. A.
- Współwytwórcy:
-
Huber, H.-P.
Yu, J.-J.
Wu, S.
Kienberger, F. - Data publikacji:
- 2012
- Dostawca treści:
- Academica
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.