- Tytuł:
- Angle Resolved Scattering Combined with Optical Profilometry as Tools in Thin Films and Surface Survey
- Autorzy:
-
Marszałek, K.
Wolska, N.
Jaglarz, J. - Data publikacji:
- 2015-07
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
78.35.+c
78.68.+m
78.66.Jg - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki