- Tytuł:
- Accurate determination of matrix composition in semiconductor material using MS-SIMS and ToF-SIMS methods
- Autorzy:
-
Zeinab Khosravizade
Małgorzata Trzyna-Sowa
Lysak, Anastasiia
Ewa Przeździecka
Rafał Jakieła - Współwytwórcy:
- Lysak, Anastasiia
- Data publikacji:
- 2025-03-07
- Wydawca:
- RepOD
- Tematy:
-
Physics
CdxZn1−xO
calibration curve
SIMS
semiconductor - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Otwartych Danych