Temat: Elipsometria - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Technika elipsometrii spektroskopowej jako metoda monitorowania jakości powierzchni materiałów grupy SrxBa1-xNb2O6
Autorzy:: Dorywalski, K.
Patryn, A.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: elipsometria
elipsometria spektroskopowa
chropowatość powierzchni
SBN
ellipsometry
spectroscopic ellipsometry
surface roughness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Application of a biosensor based on SPR using spectroscopic ellipsometer
Zastosowanie czujnika biologicznego bazującego na powierzchniowym rezonansie plazmonu (SPR) używającego elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Bombarová, K.
Chlpík, J.
Cirák, J.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:: SPR
ellipsometry
TIRE
biosensor
elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Application of a biosensor based on SPR using spectroscopic ellipsometer
Autorzy:: Bombarová, K.
Chlpík, J.
Cirák, J.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: SPR
ellipsometry
TIRE
biosensor
elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Studies of silver diffusion into soda-lime glass using analysis of plasmon evolution
Autorzy:: Nocuń, Marek
Środa, Marcin
Jedliński, Jerzy
Lipień, Krzysztof
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: glass
silver
diffusion
ellipsometry
szkło
dyfuzja
elipsometria
srebro; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Multilayer polymer films containing toroidal molybdenum oxide based structures
Wielowarstwowe filmy polielektrolitowe zawierające toroidalne struktury oparte na tlenku molibdenu
Autorzy:: Lange, Emilia
Słowa kluczowe:: polymer films, polyoxometalates, polyelectrolytes, ellipsometry
filmy polimerowe, polioksometalany, polielektrolity, elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Przemiany grup chromoforowych w polimerach metakrylowych pod wpływem światła i pola elektrycznego
Autorzy:: Kucharski, S.
Janik, R.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: polimery fotochromowe
modulacja współczynnika refrakcji
polimery metakrylowe
elipsometria
polymres
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: The influence of PEDOT to PSS ratio on the optical properties of PEDOT:PSS thin solid films : insight from spectroscopic ellipsometry
Współwytwórcy:: Jarząbek, Bożena. Autor
Wanic, Adam. Autor
Jurusik, Jan. Autor
Łaba, Katarzyna. Autor
Domański, Marian (chemik). Autor
Bednarski, Henryk Józef. Autor
Łapkowski, Mieczysław (1951- ). Autor
Hajduk, Barbara (inżynieria materiałowa). Autor
Data publikacji:: 2016
Tematy:: Sulfonian polistyrenu
PEDOT
Elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Evaluation of thin Ta(N) film integrity deposited on porous glasses
Autorzy:: Shamiryan, D.
Baklanov, M. R.
Yanovitskaya, A. V.
Zverev, A. V.
Tőkei, Z.
Iacopi, F.
Maex, K.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: szkło porowate
bariera dyfuzyjna
elipsometria
porous glass
low-k dielectric
diffusion barrier
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: New designs for graded refractive index antireflection coatings
Autorzy:: Mahdjoub, A.
Zighed, L.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: warstwa przeciwodblaskowa
elipsometria
współczynnik załamania światła
AR coatings
ellipsometry
graded refractive index; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Characterization of a-C:N:H, a-SiNx:H and a-SiCx:Ny:H layers deposited on various substrates
Autorzy:: Dyndał, K.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: PACVD
amorphous layer
spectroscopic ellipsometry
optical properties
warstwy amorficzne
elipsometria spektroskopowa
właściwości optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Elipsometria" wg kryterium: Temat