- Tytuł:
- Zastosowanie niskokątowej analizy promieniowania x (GIXA) do badań układów cienkowarstwowych
- Autorzy:
-
Mietniowski, P.
Powroźnik, W.
Kanak, J.
Stobiecki, T.
Kuświk, P. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
dyfrakcja promieniowania X
metoda GIXA
reflektometria
fluorescencja promieniowania X
X-ray diffraction
GIXA method
X-ray reflectivity
X-ray fluorescence - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł