Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "Kelvin Probe Force Microscopy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-14 z 14
    Tytuł:
    ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
    Autorzy:
    Świadkowski, Bartosz
    Piasecki, Tomasz
    Rudek, Maciej
    Świątkowski, Michał
    Gajewski, Krzysztof
    Majstrzyk, Wojciech
    Babij, Michał
    Dzierka, Andrzej
    Gotszalk, Teodor
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    Scanning probe microscopy
    AFM
    Kelvin Probe force microscopy
    scanning tunnelling microscopy
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Examination of polymer/metal interface modified by self-assembled monolayer by Kelvin probe force microscopy and secondary ion mass spectrometry
    Autorzy:
    Budkowski, Andrzej
    Rysz, Jakub
    Marzec, M. M.
    Łużny, W.
    Bernasik, A.
    Data publikacji:
    2013
    Słowa kluczowe:
    Kelvin probe force microscopy
    self-assembled monolayers
    buried interface
    secondary ion mass spectrometry
    thin polymer film
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Kelvin probe force microscopy work function characterization of transition metal oxide crystals under ongoing reduction and oxidation
    Autorzy:
    Wrana, Dominik
    Szot, Krzysztof
    Bełza, Wojciech
    Rodenbücher, Christian
    Cieślik, Karol
    Krok, Franciszek
    Data publikacji:
    2019
    Słowa kluczowe:
    transition metal oxides
    TiO/SrTiO_{3} heterostructure
    TiO nanowires
    Kelvin probe force microscopy (KPFM)
    reduction and oxidation
    work function
    SrTiO_{3}
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Ion-beam-induced surface modification and nanostructuring of $A_{III}B_{V}$ semiconductors
    Autorzy:
    Struski, P.
    Szymoński, Marek
    Such, Bartosz
    Krok, Franciszek
    Kołodziej, Jacek
    Data publikacji:
    2003
    Słowa kluczowe:
    surface nanostructuring
    $A_{III}B_{V}$ semiconductor surfaces
    ion-enhanced surface diffusion
    dynamic force microscopy
    ion-induced surface modification
    Kelvin probe force spectroscopy
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-14 z 14

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies