Temat: Kelvin Probe microscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Correlation between surface morphology and potential profile in OFETs with zone-cast TIPS-Pentacene as seen by scanning Kelvin probe microscopy
Autorzy:: Kucinska, M.
Szymanski, M. Z.
Frac, I.
Chandezon, F.
Ulanski, J.
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: organic field effect transistors
scanning Kelvin probe microscopy
zone casting; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Seebeck coefficient measurement by Kelvin-probe force microscopy
Autorzy:: Ikeda, H.
Salleh, F.
Asai, K.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:: Seebeck coefficient
Kelvin-probe force microscopy
nanostructure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Seebeck coefficient measurement by Kelvin-probe force microscopy
Autorzy:: Ikeda, H.
Salleh, F.
Asai, K.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: Seebeck coefficient
Kelvin-probe force microscopy
nanostructure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Examination of biofilm formation on stainless-steel and glass surfaces
Autorzy:: Buzalewicz, Igor
Agnieszka Ulatowska-Jarża
Marlena Gąsior-Głogowska
Paweł Żyłka
Współwytwórcy:: Buzalewicz, Igor
Wydawca:: RepOD
Tematy:: Engineering
Kelvin Probe microscopy
Contact Potential Difference
quantitative phase imaging
Infrared Microspectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Otwartych Danych

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
Autorzy:: Świadkowski, Bartosz
Piasecki, Tomasz
Rudek, Maciej
Świątkowski, Michał
Gajewski, Krzysztof
Majstrzyk, Wojciech
Babij, Michał
Dzierka, Andrzej
Gotszalk, Teodor
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: Scanning probe microscopy
AFM
Kelvin Probe force microscopy
scanning tunnelling microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems
Autorzy:: Świadkowski, Bartosz
Piasecki, Tomasz
Rudek, Maciej
Świątkowski, Michał
Gajewski, Krzysztof
Majstrzyk, Wojciech
Babij, Michał
Dzierka, Andrzej
Gotszalk, Teodor
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: Scanning probe microscopy
AFM
Kelvin Probe force microscopy
scanning tunnelling microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Data for the article entitled: Mechanical and Kelvin probe force microscopy investigations of ultrathin membranes based on MoS2 and MoSe2
Autorzy:: Piejko, Adrianna
Współwytwórcy:: Piejko, Adrianna
Wydawca:: RepOD
Tematy:: Physics
Other
atomic force microscopy
Kelvin probe force microscopy
mechanical properties
Young's modulus
transition metal dichalogenides membranes; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Otwartych Danych

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Examination of polymer/metal interface modified by self-assembled monolayer by Kelvin probe force microscopy and secondary ion mass spectrometry
Autorzy:: Budkowski, Andrzej
Rysz, Jakub
Marzec, M. M.
Łużny, W.
Bernasik, A.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: Kelvin probe force microscopy
self-assembled monolayers
buried interface
secondary ion mass spectrometry
thin polymer film; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Results obtained for bismuth oxide thin layers carried out by selected scanning microscopies
Autorzy:: Juszczyk-Synowiec, Justyna
Współwytwórcy:: Juszczyk-Synowiec, Justyna
Wydawca:: RepOD
Tematy:: Chemistry
Engineering
Physics
bismuth oxide
electrostatic force microscopy
Kelvin probe force microscopy
atomic force microscopy
thin films
surface electron properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Otwartych Danych

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy
Autorzy:: Łużny, W.
Rysz, Jakub
Marzec, M. M.
Haberko, J.
Bernasik, A.
Awsiuk, Kamil
Budkowski, Andrzej
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: metal surface
thin polymer film
polystyrene
self-assembled monolayers
polyaniline
buried interface
Kelvin Probe Force Microscopy
polymer blend; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Kelvin Probe microscopy" wg kryterium: Temat