- Tytuł:
- Weryfikacja możliwości globalnej ekstrakcji parametrów tranzystora MOS z użyciem modelu EKV
- Autorzy:
-
Bartnik, Ł.
Aarabas, J.
Szostak, S.
Tomaszewski, D. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
model tranzystora MOS
metody optymalizacji
MOSFET modeling
optimization methods - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech