- Tytuł:
- Intelligent measuring system for characterisation of defect centres in semi-insulating materials by photoinduced transient spectroscopy
- Autorzy:
-
Pawłowski, M.
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Jankowski, S.
Wierzbowski, M. - Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
sieci neuronowe
centra defektowe
materiały półizolujące
Photoinducted Transient Spectroscopy (PITS)
neural network
computational intelligence
defect centres
semi-insulating materials - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł