- Tytuł:
- Testing Time Optimization Technique for IEEE 802.15.4z Ultra-Wideband Integrated Circuits
- Autorzy:
-
Tsaturyan, Grigor
Gomtsyan, Hovhannes - Data publikacji:
- 2024
- Słowa kluczowe:
-
interframe spacing
packet generation
RF circuit testing
sensitivity measurements
test time reduction
UWB - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech