Temat: RF modeling - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Verilog-A inductor compact model for the efficient simulation of Class-D VCOs
Autorzy:: Fino, M. H.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: Verilog-A
RF modeling
tapered Inductor
Class D Oscillator
modelowanie RF
cewka indukcyjna
oscylator; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Verilog-A inductor compact model for the efficient simulation of Class-D VCOs
Autorzy:: Fino, M. H.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: Verilog-A
RF modeling
tapered Inductor
Class D Oscillator
modelowanie RF
cewka indukcyjna
oscylator; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: 1-D equivalent circuit for RF MEMS capacitive switch
Autorzy:: Kula, S.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: RF MEMS switch
equivalent circuits for MEMS
multiphysics modeling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: 1-D equivalent circuit for RF MEMS capacitive switch
Autorzy:: Kula, S.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: RF MEMS switch
equivalent circuits for MEMS
multiphysics modeling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Numerical analysis of thermal stresses in carbon films obtained by the RF PECVD method on the surface of a cannulated screw
Autorzy:: Sawicki, J.
Dudek, M.
Kaczmarek, Ł.
Więcek, B.
Świątczak, T.
Olbrycht, R.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: RF PECVD
termografia
warstwy węglowe
naprężenie
modelowanie elementów skończonych
thermography
carbon films
residual stresses
finite element modeling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Influence of the radiofrequency applicators arrangement on the sizes of ablative zones inside hepatic tumor
Autorzy:: Gas, Piotr
Miaskowski, Arkadiusz
Data publikacji:: 2024
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czasopisma i Monografie PAN
Tematy:: ablation zones
computational modeling
finite element method
heating techniques
hepatocellular carcinoma
percutaneous thermal ablation
RF electrodes; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Influence of the radiofrequency applicators arrangement on the sizes of ablative zones inside hepatic tumor
Autorzy:: Gas, Piotr
Miaskowski, Arkadiusz
Data publikacji:: 2024
Słowa kluczowe:: ablation zones
computational modeling
finite element method
heating techniques
hepatocellular carcinoma
percutaneous thermal ablation
RF electrodes; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Advanced compact modeling of the deep submicron technologies
Autorzy:: Grabiński, W.
Bucher, M.
Sallese, J.-M.
Krummenacher, F.
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: ultra deep submicron (UDSM) technology
compact modeling
EKV MOS transistor model
MOSFET
matching
low power
RF applications; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Numerical analysis of thermal stresses in carbon films obtained by the RF PECVD method on the surface of a cannulated screw
Analiza numeryczna naprężeń cieplnych w warstwie węglowej otrzymanej w procesie RF PECVD na powierzchni wkręta kostnego
Autorzy:: Sawicki, J.
Dudek, M.
Kaczmarek, Ł.
Więcek, B.
Świątczak, T.
Olbrycht, R.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: RF PECVD
termografia
warstwy węglowe
naprężenie
modelowanie elementów skończonych
thermography
carbon films
residual stresses
finite element modeling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Advanced compact modeling of the deep submicron technologies
Autorzy:: Grabiński, W.
Bucher, M.
Sallese, J.-M.
Krummenacher, F.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: ultra deep submicron (UDSM) technology
compact modeling
EKV MOS transistor model
MOSFET
matching
low power
RF applications; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "RF modeling" wg kryterium: Temat