- Tytuł:
- Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky-Golay algorithm
- Autorzy:
-
Serafińczuk, J.
Pietrucha, J.
Schroeder, G.
Gotszalk, T. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
X-ray reflectivity
thickness determination
Savitzky-Golay algorithm - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech