- Tytuł:
- Analiza przyczynowo-skutkowa awarii maszyn i charakterystyka bazy TPM_f v02 do analizy i kontroli realizacji programu TPM w odlewni precyzyjnej
- Autorzy:
- Pisarek, B.
- Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
odlewnia precyzyjna
program TPM
diagram Ishikawy
diagram Pareto
systemy informatyczne typu MRP
precision foundry
TPM program
Ishikawa diagram
Pareto diagram
weight factors
systems type MRP
ERP - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł