- Tytuł:
- Data on step-by-step atomic force microscopy monitoring of changes occurring in single melanoma cells undergoing ToF SIMS specialized sample preparation protocol
- Autorzy:
-
Rysz, Jakub
Wiltowska-Zuber, Joanna
Bobrowska, Justyna
Awsiuk, Kamil
Jany, Benedykt
Budkowski, Andrzej
Lekka, Malgorzata
Krok, Franciszek
Pabijan, Joanna - Data publikacji:
- 2016
- Słowa kluczowe:
-
ToFSIMS
AFM imaging
single cells preparation - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Artykuł