- Tytuł:
- Quantification of nanocrystallization by means of X-ray line profile analysis
- Autorzy:
-
Zehetbauer, M. J.
Schafler, E.
Ungar, T. - Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
analiza profilu linii rentgenowskiej
odbicia dyfrakcyjne wyższych rzędów
rozdrobnienie ziarna
deformacja plastyczna
promieniowanie synchrotronowe
X-ray Line Profile Analysis
multi reflection profile analysis
size and strain broadening
nanocrystallization
severe plastic deformation
synchrotron radiation - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech