Temat: analog circuit testing

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobuzenia testującego analogowe układy elektroniczne
Autorzy:: Grzechca, D.
Golonek, T.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: wyżarzanie symulowane
optymalizacja pobudzenia
testowanie i diagnostyka układów elektronicznych
simulated annealing
optimization of input stimuli
analog circuit testing and diagnosis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
Tolerance problem in testing of fully differential electronic circuits
Autorzy:: Toczek, W.
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:: układ analogowy
testowanie
układy w pełni różnicowe
model probabilistyczny testu
ocena ryzyka
analog circuit testing
fully differential circuits
probabilistic model for test
risk evaluation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
Autorzy:: Toczek, W.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: układ analogowy
testowanie
układy w pełni różnicowe
model probabilistyczny testu
ocena ryzyka
analog circuit testing
fully differential circuits
probabilistic model for test
risk evaluation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Two heuristic alghorithms for test point selection in analog circuit diagnoses
Autorzy:: Pułka, A.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuit diagnosis
fault diagnosis
testing
search methods
heuristic optimization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Two heuristic alghorithms for test point selection in analog circuit diagnoses
Autorzy:: Pułka, A.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: analog circuit diagnosis
fault diagnosis
testing
search methods
heuristic optimization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits
Autorzy:: Spyronasios, A. D.
Dimopoulos, M. G.
Hatzopoulos, A. A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: analogowy i mieszany test sygnału
test obwodu
falki
odległość Mahalanobisa
Analog and Mixed-Signal Testing
Circuit Test
wavelets
Mahalanobis distance; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits
Autorzy:: Spyronasios, A. D.
Dimopoulos, M. G.
Hatzopoulos, A. A.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: analogowy i mieszany test sygnału
test obwodu
falki
odległość Mahalanobisa
Analog and Mixed-Signal Testing
Circuit Test
wavelets
Mahalanobis distance; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Topological analysis and diagnosis of analog circuits
Autorzy:: Starzyk, J.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: układ analogowy
analiza topologiczna
diagnostyka układów
lokalizacja uszkodzeń
testowanie układów
analog circuit
topological analysis
diagnosis of circuits
fault location
testing of circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja