Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "antireflection layer" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-13 z 13
Tytuł:
Struktura i własności warstw Al₂O₃ osadzonych metodą ALD na krzemowych ogniwach fotowoltaicznych
Autorzy:
Szindler, M.
Data publikacji:
2018
Słowa kluczowe:
osadzanie warstw atomowych
warstwy antyrefleksyjne
krzemowe ogniwo fotowoltaiczne
własności optyczne
charakterystyka prądowo-napięciowa
atomic layer deposition
antireflection coatings
silicon solar cells
optical properties
current-voltage characteristics
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-13 z 13

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies