Temat: atomic/magnetic force microscopy (AFM/MFM)

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: The MFM studies of the surface domain structure of Sm–Fe–Co–Zr–Cu thin ribbons
Autorzy:: Dośpiał, M
Nabiałek, M.
Szota, M
Michta, Ł
Wieczorek, P
Błoch, K
Pietrusiewicz, P
Oźga, K
Michalczyk, J
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:: atomic/magnetic force microscopy (AFM/MFM)
surface domain structure
melt spinning method
Sm–Co alloys
hard magnetic magnets; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The MFM studies of the surface domain structure of Sm–Fe–Co–Zr–Cu thin ribbons
Autorzy:: Dośpiał, M.
Nabiałek, M.
Szota, M.
Michta, Ł.
Wieczorek, P.
Błoch, K.
Pietrusiewicz, P.
Oźga, K.
Michalczyk, J.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: atomic/magnetic force microscopy (AFM/MFM)
surface domain structure
melt spinning method
Sm–Co alloys
hard magnetic magnets; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
Zastosowanie funkcji autokorelacji oraz geometrii fraktalnej do analizy obrazów struktur domenowych rejestrowanych metodą MFM
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Czaja, P.
Maziarz, W.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: atomic force microscopy (AFM)
magnetic force microscopy
magnetic domains
fractal analysis
mikroskopia sił magnetycznych
MFM
analiza fraktalna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Czaja, P.
Maziarz, W.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
magnetic force microscopy
magnetic domains
fractal analysis
mikroskopia sił magnetycznych
MFM
analiza fraktalna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja